半硬同軸電纜出現(xiàn)反射峰時，先要固定原纜、端接和校準(zhǔn)參考面，避免重接后把異常證據(jù)清掉。上海復(fù)興復(fù)華檢測可就SJ50973/3-1995的SFT-50-5-51完整15項，與委托方核對測量曲線、截面和成形狀態(tài)。以下逐項說明真實可用的普通量測鏈，不把原廠設(shè)備默認(rèn)設(shè)置或MIL規(guī)范數(shù)值冒稱本SJ要求。

檢測對象項目/參數(shù)檢測標(biāo)準(zhǔn)（方法）序號名稱

SFT-50-5-51型聚四氟乙烯絕緣半硬同軸電纜		全部項目	SFT-50-5-51型聚四氟乙烯絕緣半硬同軸電纜詳細規(guī)范 SJ 50973/3-1995
	1	結(jié)構(gòu)尺寸	SFT-50-5-51型聚四氟乙烯絕緣半硬同軸電纜詳細規(guī)范 SJ 50973/3-1995 3.1.2
	2	內(nèi)導(dǎo)體的偏心度	SFT-50-5-51型聚四氟乙烯絕緣半硬同軸電纜詳細規(guī)范 SJ 50973/3-1995 3.2.1
	3	導(dǎo)體的附著力	SFT-50-5-51型聚四氟乙烯絕緣半硬同軸電纜詳細規(guī)范 SJ 50973/3-1995 3.2.2
	4	連續(xù)性	SFT-50-5-51型聚四氟乙烯絕緣半硬同軸電纜詳細規(guī)范 SJ 50973/3-1995 3.3.1
	5	介質(zhì)耐壓	SFT-50-5-51型聚四氟乙烯絕緣半硬同軸電纜詳細規(guī)范 SJ 50973/3-1995 3.3.3
	6	加工質(zhì)量	SFT-50-5-51型聚四氟乙烯絕緣半硬同軸電纜詳細規(guī)范 SJ 50973/3-1995 3.6
	7	滅暈電壓	SFT-50-5-51型聚四氟乙烯絕緣半硬同軸電纜詳細規(guī)范 SJ 50973/3-1995 3.3.4
	8	特性阻抗	SFT-50-5-51型聚四氟乙烯絕緣半硬同軸電纜詳細規(guī)范 SJ 50973/3-1995 3.3.5
	9	衰減	SFT-50-5-51型聚四氟乙烯絕緣半硬同軸電纜詳細規(guī)范 SJ 50973/3-1995 3.3.6
	10	結(jié)構(gòu)反射損耗	SFT-50-5-51型聚四氟乙烯絕緣半硬同軸電纜詳細規(guī)范 SJ 50973/3-1995 3.3.7
	11	電容	SFT-50-5-51型聚四氟乙烯絕緣半硬同軸電纜詳細規(guī)范 SJ 50973/3-1995 3.3.8
	12	外導(dǎo)體的完整性	SFT-50-5-51型聚四氟乙烯絕緣半硬同軸電纜詳細規(guī)范 SJ 50973/3-1995 3.2.3
	13	尺寸穩(wěn)定性	SFT-50-5-51型聚四氟乙烯絕緣半硬同軸電纜詳細規(guī)范 SJ 50973/3-1995 3.2.4
	14	彎曲性	SFT-50-5-51型聚四氟乙烯絕緣半硬同軸電纜詳細規(guī)范 SJ 50973/3-1995 3.2.5
	15	重量	SFT-50-5-51型聚四氟乙烯絕緣半硬同軸電纜詳細規(guī)范 SJ 50973/3-1995 3.5

結(jié)構(gòu)尺寸

從異常位置及相鄰正常位置安排截面，分別實測導(dǎo)體、介質(zhì)和外管幾何，標(biāo)注方向和切割位置。尺寸對比須使用同一測量條件，不能把斜切的橢圓影像當(dāng)真實直徑；結(jié)構(gòu)照片用于解釋關(guān)聯(lián)，而不是從圖紙尺寸直接判定反射原因。

內(nèi)導(dǎo)體的偏心度

先校準(zhǔn)截面圖像比例，識別內(nèi)導(dǎo)體中心及所用外輪廓，按確認(rèn)的定義求偏心信息。另一普通旋轉(zhuǎn)法需記錄整周指示變化并抑制試樣彎曲，二者的量定義不能混用；只有外徑測量不足以確認(rèn)中心位置。

導(dǎo)體的附著力

制備保持原始界面的軸向分離樣，明確支承孔作用于哪層、夾具牽引哪層，并連續(xù)記錄力和位移。剝離峰值若來自刀口殘留、支承卡滯或介質(zhì)本體破壞應(yīng)單列，不能把附著力直接換算成高頻介質(zhì)常數(shù)或傳輸衰減。

連續(xù)性

以獨立通斷回路核查內(nèi)外導(dǎo)體，保留來樣接觸狀態(tài)和重復(fù)讀數(shù)；必要時緩慢改變原有接觸狀態(tài)尋找間歇斷點，但變化過程需記錄。電流能通過不代表沒有局部阻抗臺階，連續(xù)性與射頻反射必須作為不同結(jié)果交付。

介質(zhì)耐壓

驗證施壓接線、回路接地及末端絕緣，測量實際電壓并記錄保持過程和失效位置。端部閃絡(luò)的復(fù)測不能抹去初測狀態(tài)，試驗結(jié)束安全釋放電荷；射頻曲線正常不等同絕緣耐受已驗證，耐壓通過也不能排除幾何反射。

加工質(zhì)量

在改動端接前對原端頭、外管表面、壓傷與焊接附近留圖，檢查裂紋、加工屑、劃傷和局部變形。清潔或切除必須建立前后記錄，不能憑表面光亮認(rèn)定內(nèi)部無缺陷，也不能把可疑外觀直接定為全部電氣異常的原因。

滅暈電壓

使端部不先產(chǎn)生電暈，再緩慢升高正弦電壓確認(rèn)持續(xù)放電，隨后降壓記錄滅暈點和背景。記錄所用絕緣油處理及壓力條件的實際分支，未采用的減壓試驗不宣稱已做；滅暈電壓不同于起暈點和一次噪聲脈沖。

特性阻抗

校準(zhǔn)阻抗測量鏈，在明確的參考面和參考阻抗下保存曲線，注明求的是局部時域量還是整線等效量。接頭模型、帶寬和分辨力會影響局部臺階解釋，不能把儀器屏幕默認(rèn)量當(dāng)成本標(biāo)準(zhǔn)全部定義，也不使用反射圖的平滑結(jié)果取代原始記錄。

衰減

在兩端口系統(tǒng)測傳輸并明確有效長度及適配器是否包含在結(jié)果內(nèi)，固定接線后保存頻率響應(yīng)。插入損耗含失配作用時須說明與傳播衰減的區(qū)別；通過重接和方向?qū)φ湛珊瞬闇y量重復(fù)性，但不能將這種對照本身稱為材料更換試驗。

結(jié)構(gòu)反射損耗

結(jié)構(gòu)反射損耗需先定義電纜參考阻抗，再對測得反射作相應(yīng)歸一化，保存所用阻抗求值頻段和連接器補償。參考定義變化會改變結(jié)果，不能把標(biāo)稱系統(tǒng)參考下的回波損耗改個標(biāo)簽就作為SRL；周期窄峰與離散缺陷亦需分查。

電容

以已補償測試線的電容測量系統(tǒng)連接內(nèi)外導(dǎo)體，記錄頻率、有效長度和環(huán)境。將測量端寄生與樣品總電容分開，單位長度量需用真實長度歸算；不能以某一個名義速度因子反算電容來代替測量。

外導(dǎo)體的完整性

對半硬外管按選定方法進行熱調(diào)節(jié)和恢復(fù)，并對一端施加確認(rèn)的熔融焊料熱作用，記錄該端與未作用區(qū)。檢查裂縫、瑕疵和金屬損傷，不將焊料作用前的外觀直接當(dāng)作試后結(jié)果，也不把連續(xù)性良好當(dāng)外管材料完整的唯一證據(jù)。

尺寸穩(wěn)定性

端面應(yīng)平整去毛刺并先記錄初態(tài)，再在捕獲式夾具內(nèi)熱調(diào)節(jié)和恢復(fù)，逐件測兩端介質(zhì)相對金屬外管的位置。記錄各方向讀數(shù)和約束狀態(tài)，不能把一端伸出、另一端回縮平均抵消后稱無變化；自由樣與約束樣的結(jié)果不混比。

彎曲性

按選定芯軸使樣段繞彎，工具僅輔助成形而不劃破管壁，拆下后檢查彎外側(cè)和內(nèi)側(cè)的裂紋、折皺及局部失圓。彎曲構(gòu)型與原始反射曲線通過樣品編號關(guān)聯(lián)，不能因試后測量變化就忽略成形時的端接改變。

重量

以稱重樣段的實際長度為基準(zhǔn)讀取質(zhì)量，記錄衡器、表面狀態(tài)和是否含有端接。單位長度重量可以核對供貨結(jié)構(gòu)，但不能僅憑重量一致判定幾何或電氣相同；切樣、清洗后須使用相應(yīng)的新質(zhì)量和長度。

與上海復(fù)興復(fù)華檢測溝通反射排查時，請?zhí)峁┪唇?jīng)平滑的頻譜、校準(zhǔn)及端接資料、結(jié)構(gòu)圖和原樣位置。依據(jù)SJ50973/3-1995完整15項，先區(qū)分系統(tǒng)參考、幾何與材料證據(jù)，再討論異常關(guān)聯(lián)；一條反射曲線不能單獨證明制造工序因果，未實施的整機或天線系統(tǒng)性能不由原纜報告替代。