x射線(xiàn)衍射儀、x射線(xiàn)能譜儀

中國(guó)科學(xué)院廣州化學(xué)研究所分析測(cè)試中心

事業(yè)部--高工--

產(chǎn)品型號(hào): x'pert pro

生產(chǎn)廠家:荷蘭帕納科公司panalytical b.v.（原飛利浦分析儀器）

儀器介紹:x'pert pro x射線(xiàn)衍射儀采用陶瓷χ光管、dops直接光學(xué)定位傳感器定位和Zui優(yōu)化的控制臺(tái)及新型窗口軟件。采用模塊化設(shè)計(jì)，可針對(duì)不同的要求采用Zui優(yōu)的光學(xué)系統(tǒng)，從而得到的實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，達(dá)到Zui高的實(shí)驗(yàn)效率。

主要附件：高、低溫附件（室溫至1600°；-193°~450°）；多功能樣品臺(tái)（可放直徑100mm，高度100mm尺寸內(nèi)的Zui大載重1kg的樣品）；薄膜附件。

技術(shù)參數(shù):

· χ射線(xiàn)發(fā)生器： Zui大功率：3kwZui大管壓：60kvZui大管流：60ma

· 陶瓷χ光管： Zui大功率：2.2kw（cu靶）Zui大管壓：60kvZui大管流：55ma

· 測(cè)角儀： 掃描方式：θ/θ或2θ/θ模式角度重現(xiàn)性：±0.0001°(空載)

· 探測(cè)器： 正比探測(cè)器：99%線(xiàn)性范圍1×106cps，Zui大背景≤0.2cps ；半導(dǎo)體陣列探測(cè)器：Zui大計(jì)數(shù)率4×106cps，99%線(xiàn)性范圍1×106cps，Zui大背景≤0.1cps

技術(shù)特點(diǎn):

· 預(yù)校準(zhǔn)光路全模塊化,不同光路系統(tǒng)及各種樣品臺(tái)等附件均可以在幾分鐘內(nèi)實(shí)現(xiàn)高精度的更換。x'celerator超能探測(cè)器接收效率、靈敏度、穩(wěn)定性高。配備相應(yīng)軟件及pdf-2國(guó)際粉末衍射數(shù)據(jù)庫(kù)，可進(jìn)行物相定性定量分析，點(diǎn)陣參數(shù)測(cè)定，晶粒大小/微觀應(yīng)力分析，殘余應(yīng)力分析及薄膜分析。

應(yīng)用范圍:廣泛應(yīng)用于物理、化學(xué)、藥物學(xué)、冶金學(xué)、高分子材料、生命科學(xué)及材料科學(xué)。可以分析黏土礦物、合金、陶瓷、食品、藥物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、超導(dǎo)材料、納米材料、超晶格材料和磁性材料的物相鑒定，材料可以是單晶體、多晶體、纖維、薄膜等片狀、塊狀、粉末狀固體。

產(chǎn)品型號(hào): genesis能譜儀

生產(chǎn)廠家:美國(guó)伊達(dá)克斯有限公司edax inc.

儀器介紹:genesis能譜儀是高性能能譜儀的代表，其秉承了edax公司phoenix能譜儀指標(biāo)高、性能好、壽命長(zhǎng)，使用方便的特點(diǎn)。edax能譜儀已應(yīng)用在環(huán)境掃描電鏡、場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡和透射電鏡上，并且可以同edax公司的oim（電子背散射衍射取向成像分析系統(tǒng)）構(gòu)成一體化分析系統(tǒng)。

技術(shù)參數(shù):

· 探頭分辨率優(yōu)于129ev,峰背比優(yōu)于20000:1

· 檢測(cè)元素范圍be4 - u92

· Zui大計(jì)數(shù)率500,000cps

· Zui大圖象采集分辨率8192x6400象素

· Zui大面分布圖采集分辨率2048x1600象素

技術(shù)特點(diǎn):

· 探頭指標(biāo)高，性能好，壽命長(zhǎng)。

· 全新32位軟硬件系統(tǒng)，工作可靠，效率高。

· 具有操作引導(dǎo)的集成式界面，使用直觀方便。

· 具有多種專(zhuān)有技術(shù)軟件，分析精度高。

· 軟件種類(lèi)及功能豐富，且具有報(bào)告生成系統(tǒng)。

應(yīng)用范圍:主要用于各類(lèi)樣品的化學(xué)元素成分分析。可以獲得樣品中各種元素的含量和分布的信息。