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環(huán)境掃描電子顯微鏡、核磁共振波譜儀

中國科學院廣州化學研究所分析測試中心

事業(yè)部--高工--

 

 

 

 

 

產品型號: quanta 200

生產廠家:荷蘭fei公司

儀器介紹:fei/飛利浦新推出的quanta系列掃描電子顯微鏡成為目前技術先進、操作方便、維護簡單的掃描電鏡產品,主要用于各種材料的表面形貌觀察和分析,目前已成為材料科學、生命科學研究中不可缺少的工具。新型環(huán)境掃描電鏡實現(xiàn)了人們所追求的在自然狀態(tài)下樣品觀察的目標。數(shù)字化、微機控制掃描電鏡,完全取代模擬圖像,多種記錄方式,方便網上傳輸,并可用鼠標完成全部操作功能。

主要附件:edax能譜儀,背散射探頭,低真空模式探頭,環(huán)掃模式探頭,高溫操作臺,冷臺

技術參數(shù):

· 分辨率:高真空模式 3.0nm at 30kv, 10nm at 3kv ;低真空模式 3.0nm at 30kv, 12nm at 3kv ;環(huán)境真空模式 3.0nm at 30kv ;背散射電子像 4.0nm at 30kv

· 樣品室壓力Zui高達2600pa

· 加速電壓200v ~ 30kv,可連續(xù)調節(jié)

· 樣品臺移動范圍:x=y=50mm

· 分冷臺和熱臺操作。冷臺:溫度檢測精度0.5℃;操作溫度范圍為:-5℃~60℃。熱臺:操作溫度Zui高為1000℃。

· edax能譜能量分辨率130ev,成分范圍b~u,束斑影響區(qū)1μm左右

技術特點:

· fei esem(環(huán)境掃描電鏡)技術, 可在高真空、低真空和環(huán)境真空條件下對各種導電、非導電及活體樣品進行觀察和分析。

· 可獲得所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微觀元素分析。

· 環(huán)境掃描模式可檢測活體的、濕的樣品??砂惭b低溫冷臺、加熱臺等進行樣品的動態(tài)觀察和分析。

應用范圍:納米材料、復合材料、陶瓷材料、金屬材料、高分子材料、薄膜材料、建筑材料、生物材料、電子材料、導體與非導體地礦、考古等表面微觀形貌觀察及成分分析。

 

核磁共振波譜儀

 

 

 

 

產品型號: av400

生產廠家:瑞士bruker 公司

儀器介紹:bruker av400雙通道全數(shù)字化傅立葉超導核磁共振譜儀,是54mm 標腔 long hold time 超屏蔽磁體,磁場穩(wěn)定性(1h)小于 4.0 hz/小時。

技術參數(shù):

· 雙通道高性能功放:1h/19f范圍Zui大功率為50w,平均功率為10w,在31p~15 nZui大功率為150 w,平均功率為10w。雙通道射頻, 通道相位分辨率小于0.0006度,頻率分辨率小于0.005hz。

· bbo高分辨液體探頭:寬帶正相觀察探頭,寬帶范圍:bb= 31p- 19f。配有主動屏蔽的z-梯度線圈,自動調諧atm附件,探頭變溫范圍:-150~+180℃,控溫精度:0.1℃/℃。

· dul雙頻探頭:dul5 mm雙頻正相觀察寬帶探頭,配有z-梯度線圈,探頭變溫范圍:-150~+180℃,控溫精度:0.1℃/℃。

· cp/mas魔角固體寬帶探頭:4 mm的轉子mas固體探頭。射頻功放x核為300w,h核為100w。

應用范圍:目前nmr在有機化學、無機化學、藥物化學、物理化學、材料化學等研究領域得到充分的應用,在物質結構和分子動態(tài)的研究中發(fā)揮了不可取代的功能。憑借它可以取得豐富的分子結構信息,使其應用范圍日益廣泛。

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應用范圍:重要應用具有反光材料的使用上,用以鑒別和分析各種金屬及合金的組織結構、形貌、夾雜、形態(tài)統(tǒng)計和分析、表面鍍層質量、厚度、芯片的結構、滲透組織和深度等;清晰顯示材料內部組織構造;應用于工廠或實驗室進行材料質量鑒定、失效分析,原材料的檢驗或對材料處理后金相組織的研究分析;電鏡樣品制備檢驗,特別適合有色金屬材料顯微分析。

 

                 

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