品牌德國(guó)EPK型號(hào)MiniTest1100/2100/3100/4100
涂裝測(cè)試儀minitest1100
德國(guó)epk(elektrophysik)公司minitest1100/2100/3100/4100涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn)：
minitest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號(hào)均可配所有探頭；
可通過(guò)rs232接口連接miniprint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)；
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
minitest涂層測(cè)厚儀功能
型號(hào)
1100
2100
3100
4100
minitest 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))
1
1
10
99
每個(gè)應(yīng)用行下的組(batch)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)，并可設(shè)寬容度極限值)
-
1
10
99
可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)
-
1
500
500
數(shù)據(jù)總量
1
10000
10000
10000
minitest統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar
-
√
√
√
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,cp,cpk
-
-
√
√
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar
-
-
√
√
組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,cp,cpk
-
-
√
√
存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)
-
-
-
√
分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值
-
-
√
√
顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間
-
√
√
√
其他功能設(shè)置極限值
-
-
√
√
連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量，通過(guò)模擬柱識(shí)別Zui大Zui小值
-
-
√
√
連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
-
-
√
√
連續(xù)測(cè)量模式中顯示Zui小值
-
-
√
√
minitest涂層測(cè)厚儀可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇Zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
f型探頭：測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
n型探頭：測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
fn兩用探頭：同時(shí)具備f型和n性探頭的功能
探頭
量程
低端
分辨率
誤差
Zui小曲率
半徑(凸/凹)
Zui小測(cè)量
區(qū)域直徑
Zui小基
體厚度
探頭尺寸
磁
感
應(yīng)
法
f05
0-500μm
0.1μm
±(1%±0.7μm)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
f1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
f1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
f3
0-3000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
f10
0-10mm
5μm
±(1%±10μm)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
f20
0-20mm
10μm
±(1%±10μm)
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
f50
0-50mm
10μm
±(3%±50μm)
50/200mm
300mm
2mm
φ45x70mm
兩
用
fn1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
f0.5mm
n50μm
φ15x62mm
fn1.6p
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面
30mm
f0.5mm
n50μm
φ21x89mm
fn2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
f0.5mm
n50μm
φ15x62mm
電
渦
流
法
n02
0-200μm
0.1μm
±(1%±0.5μm)
1/10mm
2mm
50μm
φ16x70mm
n.08cr
0-80μm
0.1μm
±(1%±1μm)
2.5mm
2mm
100μm
φ15x62mm
n1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
2mm
50μm
φ15x62mm
n1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x13x170mm
n10
0-10mm
10μm
±(1%±25μm)
25/100mm
50mm
50μm
φ60x50mm
n20
0-20mm
10μm
±(1%±50μm)
25/100mm
70mm
50μm
φ65x75mm
n100
0-100mm
100μm
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
50μm
φ126x155mm
cn02
10-200μm
0.2μm
±(1%±1μm)
平面
7mm
無(wú)限制
φ17x80mm
注：f1.6/90、f2/90、n1.6/90、n2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測(cè)量。
n.08cr適合銅上鉻，fn2也適合銅上鉻。
cn02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
minitest涂層測(cè)厚儀探頭圖示
fn1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測(cè)頭，可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
fn1.6p
0～1600μm,φ30mm
兩用測(cè)頭， 特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度
f05
0～500μm,φ3mm
磁性測(cè)頭，適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)
f1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測(cè)頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)
f3
0～3000μm,φ5mm
磁性測(cè)頭
可用于較厚的覆層
f1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測(cè)頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
f10
0～10mm,φ20mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
f20
0～20mm,φ40mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
f50
0～50mm,φ300mm
適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
n02
0～200μm,φ2mm
非磁性測(cè)頭，尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
n0.8cr
0～80μm,φ2mm
適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
n1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)
n1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量
量程低端分辨率很高(0.1μm)
n10
0～10mm,φ50mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
n20
0～20mm,φ70mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
n100
0～100mm,200mm
非磁性測(cè)頭，適于測(cè)量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
cn02
10～200μm,φ7mm
用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板