新到一批進(jìn)口瑞士可控硅5STP28L4200、5STP28M4200

 兆歐表測(cè)試存在的問題，兆歐表在測(cè)試器件中器件存在如下風(fēng)險(xiǎn)：
l        兆歐表采用手搖發(fā)電機(jī)輸出電壓，該電壓在實(shí)際操作過程中，還具有一定波動(dòng)性，而且可能會(huì)超過半導(dǎo)體器件的擊穿電壓，因而采用兆歐表測(cè)試時(shí)，存在擊穿器件的風(fēng)險(xiǎn)。鑒于此，各種半導(dǎo)體產(chǎn)品，一般都禁止采用兆歐表進(jìn)行測(cè)試
l       采用兆歐表測(cè)試平板式晶閘管器件時(shí)，如果對(duì)器件未施加足夠的壓力，器件管殼內(nèi)部芯片尚處于懸空狀態(tài)，當(dāng)電壓升高到一定程度時(shí)，會(huì)將芯片與管殼內(nèi)臺(tái)面之間的間隙擊穿，高電壓突然施加在芯片上，由于芯片兩端存在結(jié)電容，致使該瞬間有一較大漏電流流過，從而引起打火，有可能會(huì)損傷器件。
所以再次提醒顧客不能用采用兆歐表測(cè)試產(chǎn)品的阻斷特性，且因此方法得出的測(cè)試結(jié)論和導(dǎo)致的產(chǎn)品損失我公司一律不予認(rèn)可。