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品牌
優(yōu)可測
精度
亞微米

國產(chǎn)第一梯隊高精度閃測儀 | 一鍵測量 1500+ 零件 · Zui高 ±0.7μm 精度

產(chǎn)品概述

FMX 是優(yōu)可測(板石智能)推出的高精度一鍵式影像測量儀,是 FM 系列基礎(chǔ)上的升級產(chǎn)品,核心實現(xiàn)更高精度(2μm →0.7μm)、更清晰光學(xué)、更小檢測尺寸及 AF 測高效率與拍攝節(jié)拍的大幅提升。


設(shè)備基于遠心光學(xué)系統(tǒng)與 2000 萬像素黑白 CMOS 相機,結(jié)合多模式照明系統(tǒng)(遠心透過照明、同軸落射、4分割多角度/環(huán)狀指向性照明),在廣視野測量模式和高精度測量模式間切換,通過亞像素邊緣提取算法(將 1 像素分割至0.0025),一鍵完成多產(chǎn)品多尺寸的快速批量測量。

產(chǎn)品別稱:閃測儀、一鍵式閃測儀、一鍵式影像測量儀。


產(chǎn)品定位:國產(chǎn)第一梯隊高精度閃測儀,主打微米級精密測量,適合半導(dǎo)體、3C微小精密零件、端子、彈片等高精度場景。


核心功能與優(yōu)勢

  1. 精度高:XY 平面整機移動測量Zui高可達 ±0.7μm;視野內(nèi)高精度模式重復(fù)精度±0.1μm,廣視野模式重復(fù)精度 ±0.4~0.5μm;設(shè)備采用 50nm 高精度光柵尺,平臺直線度 ≤2μm、偏擺 ≤5角秒,消除平臺移動帶來的誤差。

  2. 超高效率:一鍵測量 1500+ 零件、1500+尺寸,批量放置后自動全局預(yù)覽、抓取輪廓,不會因尺寸多而成倍增加測量時長。

  3. 亞像素邊緣算法:將 1 個像素分割至 0.0025,確保準確識別被測物邊緣。

  4. 毛刺缺陷自動剔除:測量部位含毛刺或缺陷時,可作為異常點自動排除,提升測量數(shù)據(jù)真實性。

  5. 高倍率雙遠心鏡組:高數(shù)值孔徑鏡片提高分辨率,低畸變保證全視野測量無誤差。

  6. 豐富照明方式:標配 5種電動組合照明——底部透射光、同軸光、環(huán)形光、可移動輪廓光、縫隙環(huán)光,針對投影輪廓、表面平面、臺階、倒角分別打光,復(fù)雜材質(zhì)、異形輪廓都能清晰成像抓取邊緣。

  7. 雙模式測高:標配影像對焦測高(依靠焦平面測算實現(xiàn)高度、平面度測量);FMX-H型號可選配激光共焦測高模塊,搭配高度平滑算法無損、快速精準測高/段差。Z 軸統(tǒng)一行程 75mm。

  8. 零門檻操作:工件隨意擺放,無需人工定位定基準,零基礎(chǔ)員工簡單培訓(xùn)即可上手;保存程序后,任何人調(diào)用均可獲得相同的測量方法和結(jié)果。

  9. 數(shù)據(jù)自動化:測量完成本機自動生成檢測報告,自動記錄時間、批號、平均值、σ、3σ、6σ、Cpk等統(tǒng)計值,可通過 USB/LAN 導(dǎo)出表格,無需額外電腦中轉(zhuǎn)。

  10. 計量溯源:具有完整 CNAS 可追溯校準體系,設(shè)備基準標尺匹配國家/國際計量基準,可出具SMQ 等第三方計量院校準證書,出廠附帶出廠檢驗報告,符合 JJG73、JB/T12639 行業(yè)檢定標準。

測量能力

  • 基礎(chǔ)元素:點、線、圓、圓弧、角度。

  • 形位公差:真直度、真圓度、垂直度、平行度、位置度、同心度、對稱度、平面度、輪廓度。

  • 其他工具:點線/圓圓/線圓間距、中線、切線、輔助圓、尺寸運算等 20+種模塊化測量工具。

  • 適用行業(yè)與應(yīng)用場景

    行業(yè):3C消費電子、半導(dǎo)體、精密機加工、汽車零部件、模具制造、五金制品、新能源、航空航天、精密光學(xué)、粉末冶金、工業(yè)母機。


    典型零件與檢測項:沖壓件/沖壓彈片(長邊尺寸、孔位置、線寬高低差、孔距)、軸加工件(直徑尺寸、角度)、CNC加工件(孔間距、面高度、直徑)、粉末冶金件(孔位置、圓弧直徑)、注塑件(壁間距、長邊距、角度)、模切件(線寬、孔位置)、刀具(直徑尺寸、齒間尺寸、角度)、端子(銷與銷距離、平整度、位置度)、齒輪(齒頂圓、齒根圓、跨齒距)、螺絲(螺距、有效直徑、圓角半徑)、結(jié)構(gòu)件(孔位置、高度、坐標)、手機中框、晶圓封裝小件。


    全質(zhì)檢工序覆蓋:來料檢、首檢、巡檢、出貨檢。


    更新時間
    統(tǒng)一社會信用代碼
    91440300MA5GBQ0W3J
    法定代表人
    程恒恒
    注冊資本
    878.8569萬人民幣

    經(jīng)營范圍

    專注于精密測量設(shè)備與半導(dǎo)體量測設(shè)備,已推出白光干涉儀、光譜共焦傳感器、膜厚測量儀(薄膜厚度測量儀)、閃測儀(一鍵式影像測量儀)、超景深顯微鏡、線激光/點激光傳感器、晶圓三維量測設(shè)備、晶圓厚度/TTV/翹曲自動測量設(shè)備、封裝基板 3D 自動檢測設(shè)備等多款高精度測量產(chǎn)品。

    公司簡介

    優(yōu)可測(Atometrics)是板石智能科技(深圳)有限公司旗下運營品牌,成立于 2017 年,專注于高精度測量儀器和半導(dǎo)體量測設(shè)備的研發(fā)與銷售。公司總部位于深圳,并在中國蘇州、武漢、成都以及馬來西亞檳城等地設(shè)有分支機構(gòu)。目前已推出白光干涉儀、光譜共焦傳感器、膜厚測量儀、閃測儀、超景深顯微鏡、晶圓三維量測設(shè)備、封裝基板自動檢測設(shè)備等多款核心產(chǎn)品。產(chǎn)品測量精度橫跨微米、亞微米、納米、亞納米,廣泛應(yīng)用于精密光學(xué)、新能源、半導(dǎo)體、3C、微納加...

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