GB/T 5230-2020對(duì)電解銅箔的電阻率與翹曲度檢測(cè)做出了明確規(guī)定，其中翹曲度檢測(cè)是2020版新增的規(guī)范性附錄，在方法學(xué)上具有標(biāo)志性意義。

電阻率檢測(cè)：以“質(zhì)量電阻率”為核心指標(biāo)

GB/T 5230-2020 考核的是質(zhì)量電阻率，而非簡(jiǎn)單的體積電阻率或表面電阻率。這一指標(biāo)的單位是Ω·g/m2，其物理意義是單位面積質(zhì)量下的導(dǎo)電性能，直接關(guān)聯(lián)銅箔的純度與致密性。

檢測(cè)方法與限值參考

質(zhì)量電阻率的測(cè)定通常采用四探針?lè)?，以消除接觸電阻對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。2020版標(biāo)準(zhǔn)新增了15μm厚度銅箔的質(zhì)量電阻率規(guī)定，進(jìn)一步細(xì)化了對(duì)薄型銅箔的導(dǎo)電性管控。公開(kāi)技術(shù)資料中常見(jiàn)的限值參考為≤0.160Ω·g/m2，但具體的判定必須依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)表6中對(duì)應(yīng)銅箔型號(hào)與厚度的數(shù)值。

抽樣與試樣要求

質(zhì)量一致性檢驗(yàn)中，每種厚度不大于35μm的箔至少應(yīng)測(cè)試一塊試樣。卷狀箔以同一型號(hào)、同一生產(chǎn)線(xiàn)、基本相同工藝連續(xù)生產(chǎn)的銅箔卷為一批，質(zhì)量不超過(guò)4500kg；片狀箔的批次劃分規(guī)則相同。

翹曲度檢測(cè)：2020版新增的規(guī)范性附錄C

翹曲度檢測(cè)在2020版中首次以規(guī)范性附錄C的形式給出完整方法，1995版并無(wú)此要求。該附錄規(guī)定了從試樣尺寸、測(cè)量條件到仲裁基準(zhǔn)的全套操作規(guī)范。

核心操作步驟

取樣：截取300 mm × 300 mm的試樣3塊。

測(cè)量：將試樣自然平放于水平面上，測(cè)量其翹起面與水平面之間的Zui大垂直距離（mm），即為翹曲度值。

仲裁條件：當(dāng)檢測(cè)結(jié)果存在爭(zhēng)議時(shí)，仲裁試驗(yàn)必須控制環(huán)境溫濕度在23±1℃、50±2%的條件下進(jìn)行，以排除溫濕變化對(duì)銅箔應(yīng)力狀態(tài)和翹曲行為的干擾。

限值參考

公開(kāi)技術(shù)資料中引用的翹曲度限值為≤10 mm，判定時(shí)同樣需對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)表5或相應(yīng)條款中針對(duì)具體型號(hào)的規(guī)定。