上海復興復華檢測按EN 50288-4-1:2013整理模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜整塊24項，說明盲碼分層與復接誤差。

檢測對象項目/參數(shù)檢測標準（方法）序號名稱

模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜		全部項目	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013
	1	結(jié)構(gòu)尺寸	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 4
	2	直流環(huán)路電阻及電阻不平衡	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 5.1.1
	3	絕緣電阻	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 5.1.1
	4	介電強度	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 5.1.1
	5	工作電容	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 5.1.1
	6	對地電容不平衡	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 5.1.1
	7	衰減	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 5.1.2
	8	串音	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 5.1.2
	9	平均特性阻抗	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 5.1.2
	10	回波損耗	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 5.1.2
	11	傳播速度	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 5.1.2
	12	時延差	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 5.1.2
	13	轉(zhuǎn)移阻抗	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 5.1.2
	14	耦合衰減	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 5.1.2
	15	屏蔽衰減	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 5.1.2
	16	低溫彎曲試驗	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 5.3
	17	拉力試驗	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 5.2
	18	絕緣熱收縮	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 5.2
	19	電纜耐沖擊試驗	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 5.2
	20	護套標志刮磨試驗	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 5.2
	21	模擬安裝彎曲試驗	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 5.2
	22	抗拉試驗	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013
	23	溫度循環(huán)試驗	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 5.3
	24	燃燒試驗	模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 第4-1部分:有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜分規(guī)范 EN 50288-4-1:2013 5.4

結(jié)構(gòu)尺寸

取樣前，由委托方明確盤號、生產(chǎn)段落和軸向位置分層規(guī)則。樣段以盲碼交給測量人員，盤號對應表另存；保留導體、線對、屏蔽及護套的原態(tài)照片，不能先看結(jié)果再挑截面。

截面投影或顯微裝置經(jīng)尺度核查后，逐層識別導體、絕緣及屏蔽邊界。刀口不得擠壓軟層；同截面重復定位估計讀數(shù)與定位變化，另取截面才反映制樣差異，兩者不能充作同一種獨立取樣。

不同盤號交錯測量，插入保留截面的再次定位讀數(shù)。各方向尺寸及邊界圖按位置保存；失焦、刀痕須標明原因，不能刪除偏離值后聲稱結(jié)構(gòu)穩(wěn)定。還要核對測點數(shù)量與截面方向是否一致。

揭盲報告分列復讀、盤內(nèi)及盤間差異，附測點圖和測量記錄。多個測點不充作生產(chǎn)盤；尺寸關聯(lián)不能認定工序原因，一致性仍按確認的產(chǎn)品依據(jù)。

直流環(huán)路電阻及電阻不平衡

盲碼樣段先核對兩芯配對、實測長度及穩(wěn)定后的溫態(tài)。各盤使用相同長度表達和線對組合；遠端短接與端頭制備記入接線圖，損傷另行留證，不能把接觸變化當成導體差異。

低阻裝置采用合適的載流、測壓連接，核查引線貢獻，分別保存支路電阻和環(huán)路結(jié)果。量程及電流應避免可見溫升；不動端頭的復讀與拆開再接的復測，須使用不同標識。

各盤交錯測量后，保留段執(zhí)行復接復測。先看環(huán)路及支路原值是否共同漂移，再查短接與長度記錄；不能只留不平衡百分比。重新剝線會改變制樣狀態(tài)，不算單純復接重復。

揭盲報告按軸向位置比較各盤電阻與對稱性，單列連接重復性的分散。計算定義和溫度換算須來自確認方法，不自行設定不平衡公式；穩(wěn)定連接后仍有差異，也只作結(jié)構(gòu)核查線索。

絕緣電阻

盲碼樣段登記芯間、芯對屏蔽組合，端部處理保持一致。保存條件和污染狀態(tài)需記錄，環(huán)境調(diào)節(jié)及讀數(shù)等待納入日志；不同儲存狀態(tài)的樣段，不能直接用于推斷盤間制造差異。

高阻系統(tǒng)核查漏電路徑、保護連接及接線絕緣，注明非受試芯狀態(tài)。施壓后的電流有充電和吸收影響，須留讀數(shù)時刻及變化；儀表上限不是實測阻值，保護接法也不能排除目標絕緣泄漏。

不同盤號交錯測量，保留段監(jiān)測時段變化。重復前安全放電；端部清潔或重制會改變條件，處理前后分別記錄，不能用較高的后測值覆蓋初次觀察，也不刪除處理過程。

揭盲報告按組合、溫態(tài)及讀數(shù)時刻，分列端部處理效應與盤間差異。泄漏來源未閉合，不定性為材料缺陷，也不推導介電強度或壽命；施壓和接受依據(jù)按受控方法確認。

介電強度

耐壓組按預定抽樣表獨立分配，標明芯間及芯對屏蔽界面。留出未施壓段供其他電學比較；施壓可能改變后續(xù)狀態(tài)，同一樣品多次受壓的記錄，不能充作多個獨立樣本。

電壓源、測量、保護聯(lián)鎖和放電形成完整試驗鏈。先查端頭間距與裸絲狀態(tài)，試品實際電壓須可追溯；升壓和保持按確認方法執(zhí)行，不能僅憑控制臺設定概括全部作用條件。

盲碼記錄每個界面的施壓過程、報警時刻及異常位置。終端閃絡或中斷時，保留接線照片和初次記錄，再判斷有效性；重接后不得覆蓋原事件，重復施壓也不算無損復接。

揭盲報告列有效數(shù)量、界面、異常證據(jù)及中斷處置。樣本事件比例不外推整批缺陷率，本項不替代絕緣電阻；參數(shù)方案及接受判據(jù)，應回到確認的分規(guī)范和產(chǎn)品詳細依據(jù)。

工作電容

盲碼核對成對導體及有效樣長，先做連續(xù)性與電阻核查。工作電容采用真實的平衡線對定義，其他線芯與屏蔽接法固定；不能把任意兩芯接表的讀數(shù)，直接改名為本項結(jié)果。

電容橋或測量裝置把引線、夾具納入校準。平衡橋與非平衡橋處理路線不同，記錄所用路線；未核實的換算不能照抄儀表默認模式，短樣段尤其應核查寄生貢獻及補償記錄。

保留段先連續(xù)讀數(shù)，再拆接復測，并與各盤交錯測試。頻率、溫態(tài)及非受試導體接法一致，原響應與長度表達分別保存；不得挪引線或改屏蔽接法，只為消除盤間差異。

揭盲報告分列復接、盤內(nèi)及盤間分散，注明橋路、補償和長度基礎。工作電容不與對地不平衡合并評價；對應尺寸關聯(lián)不能證明具體配方變化，也不直接代表串音表現(xiàn)。

對地電容不平衡

盲碼線對登記兩支路與共同參考導體的關系，保留屏蔽接法圖。各盤的地定義、其他芯狀態(tài)及樣長表達應一致；否則，參考路徑改變形成的差值，會被誤認為線對結(jié)構(gòu)不對稱。

裝置及引線采用確認的平衡測量路線，核查兩支路寄生貢獻。按方法取得支路或不平衡響應，并保存原始量；不能在定義未說明時，將兩個隨意接地的單芯電容相減充作本項。

保留段做支路互換與復接，記錄引線位置和屏蔽狀態(tài)。各盤交錯測量；偏差若隨測試端口而非芯號變化，先查測量鏈，不能刪除不利支路后報告整纜對稱，也不隱去初次讀數(shù)。

揭盲報告分列芯號相關與連接相關差異，注明頻率、樣長和計算定義。再對應盤號及軸向位置比較；結(jié)果不單獨證明抗干擾能力，也不能用工作電容正常抵消本項異常。

衰減

各盤盲碼段固定線對、長度及端頭規(guī)則，保持無附加受力的原態(tài)。預先分開重復電學組與機械環(huán)境組；不能把受力后的傳輸變化，混入原始盤間比較，也不能事后挑選保留樣段。

信號源、接收網(wǎng)絡及平衡適配形成傳輸鏈，先確認校準面與端接。儀器頻率覆蓋和動態(tài)范圍須適合目標曲線；適配器損耗與線對損耗未分離時，不能全部歸入電纜本體響應。

各盤、各位置交錯取曲線，插入保留段的復接曲線。異常頻段先查校準與接觸，所有樣段用同一篩選規(guī)則；不能為某盤單獨平滑或選有利頻段，人工處理也須留下可復查記錄。

揭盲報告分列復接曲線分散、盤內(nèi)位置分散與跨盤差別，注明衰減表達和長度歸一基礎。測量鏈不穩(wěn)時，不作制造原因結(jié)論；樣段結(jié)果也不外推現(xiàn)場信道或設備速率性能。

串音

盲碼段預設激勵、受擾線對及兩端方向表，保存端部散開結(jié)構(gòu)。各盤組合一致才可比較；近端、遠端相關量與綜合量定義不同，不能把名稱相近的輸出，混作一個串音分布。

激勵、接收、平衡適配及非受試端接按確認方法連接。先查系統(tǒng)隔離和底噪，留參考響應及端頭照片；弱響應可能受夾具殘余影響，近底噪顯示值不直接代表電纜真實差異。

各盤交錯測量，保留段復接同一組合。逐條保存頻率響應和方向，異常先查配對及夾具耦合，再看盤內(nèi)位置是否重現(xiàn)；不能拿正常組合替換異常組合，也不刪除其過程證據(jù)。

揭盲報告按串音種類、組合和方向，分列復接波動與樣段差異。單個尖峰不直接判定整盤偏離；本項不代表對外屏蔽效能，制造分析還要結(jié)合結(jié)構(gòu)與屏蔽量原證據(jù)。

平均特性阻抗

盲碼段統(tǒng)一線對、長度及端接，保持原成纜結(jié)構(gòu)。平均特性阻抗是傳輸線屬性，不是導體直流電阻；預先確認平均定義及有效區(qū)間，不能把標稱值抄作實測，也不拼湊不同樣段。

阻抗裝置校準參考面，核查平衡適配和參考阻抗。頻域、時域響應按真實方法處理，輸出單位相同不代表方法等價；保留計算入口數(shù)據(jù)和軟件設置，不能只留一個平均結(jié)果。

按交錯盲碼次序測量，插入保留段的復接。所有樣段使用相同處理區(qū)間；端部反射先查參考面，不能為某盤縮短區(qū)間或刪除局部變化，否則，人工處理會冒充盤間差異。

揭盲報告分列復接均值變化與獨立樣段均值分布，附原響應。結(jié)合尺寸及回波量交叉核查；平均值接近，不證明每處結(jié)構(gòu)相同，也不替代局部不連續(xù)或回波損耗評價。

回波損耗

盲碼段記錄兩端線對及接續(xù)幾何，按相同規(guī)則制備終端。各盤使用一致參考阻抗和觀測方向；入射反射比與局部反射位置是不同數(shù)據(jù)，不能把時域尖峰改名為規(guī)范回波損耗。

反射裝置校準參考面，核查適配器與遠端負載。保留段檢查拆接后的變化，使連接不確定貢獻可追溯；端頭重制另列，不能和不動端頭的重復讀數(shù)混合，也不混淆兩類記錄。

交錯采集各盤曲線，保存未平滑響應和復接曲線。異常隨連接變化時，先查端接及校準；樣段異常重現(xiàn)時留頻段與端頭證據(jù)，但不立即認定某道工序，也不用有利谷值替代全曲線。

揭盲報告按統(tǒng)一頻率基礎，分列復接、盤內(nèi)及盤間分散，注明參考面和樣長。與阻抗、尺寸交叉核查，不能直接證明整批合格；本體測量也不等于現(xiàn)場系統(tǒng)具有同樣表現(xiàn)。

傳播速度

盲碼段記錄沿纜體量取的實際長度，保留線對及兩端對應關系。各盤用同一長度路線和溫態(tài)；盤具標稱米數(shù)不能代替測試長度，長度差會進入速度估計，應列為獨立測量因素。

相位或時間裝置與平衡適配校準后，取得傳輸響應。路線服從確認方法，保留相位處理及夾具延遲補償；群時延與相位延遲不能混用，更不能套同一速度公式而隱去不同定義。

各盤交錯測量，保留段復接并核查長度。保留延遲隨頻率變化的原數(shù)據(jù)；相位展開異?；蚨祟^變化，先查測量鏈，不能憑儀器自動速度系數(shù)認定介質(zhì)一致，也不隱去補償變動。

揭盲報告分列長度讀數(shù)變化、復接延遲變化及各盤響應。速度差只在相同定義和條件下解釋；電容、結(jié)構(gòu)關聯(lián)不證明配方差異，也不能用速度正常替代衰減或串音結(jié)果。

時延差

同一盲碼段各線對共用樣長和溫態(tài)，端頭標簽固定。先明確相減的線對集合及延遲定義；不能跨樣段拼出差值，否則長度和狀態(tài)差會混入同步性評價，各盤也就失去統(tǒng)一比較基礎。

延遲系統(tǒng)核查各通道及夾具時間基準，保存每條線對原始延遲和頻率。通道補償須有記錄，不能只留自動差值；不同定義的延遲不得直接相減，也不把補償前后數(shù)據(jù)混成一組。

各盤交錯測量，保留段做通道互換和復接。觀察差值隨線對身份還是儀器通道變化，記錄端頭布置；次序變化也須留證，不能把通道偏置誤認為絞合不均，異常原值不能覆蓋。

揭盲報告列線對延遲、差值和通道檢查，再分盤比較。固定線對集合才有可比分布；平均速度不能代替本項，也不代表現(xiàn)場端口同步性，未核實的頻點容限不作規(guī)范要求。

轉(zhuǎn)移阻抗

盲碼段統(tǒng)一屏蔽端接和有效耦合長度，留屏蔽展開前照片。各盤先確認同種屏蔽設計；連接改變會改變電流路徑，不能把這種端接差異，直接解釋成盤號對應的屏蔽均勻性變化。

系統(tǒng)建立屏蔽電流與內(nèi)部感應響應的關系，核查電流及接收基準。三同軸等路線依受控方法選擇，有電氣長度和布置邊界；任意傳輸響應除以樣長，不能直接命名為轉(zhuǎn)移阻抗。

各盤交錯測量，留一段查端接重復性。屏蔽拆接可能改變接觸幾何，須記錄，不能稱作完全無損重復；響應突變先查接地和接觸，再對照盤內(nèi)位置及結(jié)構(gòu)照片，保留初次響應。

揭盲報告注明有效長度、電流路徑、原響應及轉(zhuǎn)換依據(jù)，分列端接與樣段分散。屏蔽加工只作核查線索，不直接認定工藝原因；本量不替代屏蔽或耦合衰減，三項各守其定義。

耦合衰減

盲碼段保留線對和屏蔽結(jié)構(gòu)，統(tǒng)一差模激勵及端接。盤間比較不只看外觀，本項同時受線對平衡和屏蔽影響；樣長及外部布置改變時，比較基礎也會改變，不能只登記盤號。

受控路線核查差模激勵、平衡適配與外部接收基準。多端口模式轉(zhuǎn)換要留校準及參考阻抗；不能把共模屏蔽測量改名為本項，也不能將兩個衰減顯示值相加，充作真實耦合實測。

各盤交錯測量，保留段復接觀察夾具和端接貢獻。頻率處理一致，底噪與動態(tài)范圍有記錄；弱響應不能憑噪聲隨機差異判批次，電容不平衡只作對照線索，不能代替本項曲線。

揭盲報告分列復接、盤內(nèi)和盤間差異，說明實際模式與長度邊界。單獨線對或屏蔽變化不概括整纜防護；本項也不外推現(xiàn)場接地與設備端口免疫結(jié)論，超出能力的弱響應如實說明。

屏蔽衰減

盲碼段保存屏蔽及端接結(jié)構(gòu)，統(tǒng)一有效長度。各盤比較針對屏蔽本身，不能混入差模線對激勵的耦合衰減；屏蔽端接和接地路徑另記，連接因素不能被籠統(tǒng)歸入盤號差異。

裝置按確認的屏蔽路線建立激勵與外部響應關系。參考阻抗、補償、校準及模式接法均留記錄；不同裝置和測試頭未經(jīng)對照，不能拼成盤間分布，儀器條件也不能只寫一個型號。

各盤交錯測量，保留段檢查端接重復性和時段漂移。曲線、底噪同時保存；屏蔽松脫或接觸改變須留初態(tài)，不能整理后只報較好曲線，也不因外觀完整而跳過實測及異常證據(jù)。

揭盲報告分列端接分散和獨立樣段差異，附結(jié)構(gòu)線索。對照轉(zhuǎn)移阻抗時，注意頻率及長度定義，不靠換算代替另一量；儀器未能分辨的差別，不認定為真實制造偏離。

低溫彎曲試驗

各盤、各位置預分獨立低溫段，與原態(tài)電學組配準來源。先確認受試層位，絕緣及護套制備路線不同；不得用拉伸或沖擊后的殘段，代替新的低溫試樣，也不混用不同層位結(jié)果。

低溫箱、芯軸、導向及測溫構(gòu)成裝置，按方法讓試樣和器具共同調(diào)節(jié)。彎曲在規(guī)定低溫狀態(tài)完成；層厚及外徑影響芯軸選擇，不能僅按盤號采用不同裝置或參數(shù)，更不能隨意改變受試層位。

各盤分散安排時段，記錄箱內(nèi)位置及溫度。卷繞后保持相應形態(tài)，到規(guī)定檢查狀態(tài)再看裂紋；任意冷態(tài)觀察不能代替規(guī)定檢查，同段重復彎曲也不能增加獨立樣本數(shù)量，觀察記錄另存。

揭盲報告列層位、制樣、芯軸及彎曲檢查，區(qū)分箱內(nèi)布置與樣段差異。破壞性結(jié)果不作無損重復誤差；不推定動態(tài)壽命或所有盤性能，條件判據(jù)按確認依據(jù)。

拉力試驗

源表拉力與后列整纜抗拉分別保留，不能因名稱接近而合并。先核實是導體還是材料試件及適用方法，再按盤與位置獨立制樣；整纜受載不能替代導體或材料拉伸，也不改變源項目名稱。

拉伸裝置核查力值、位移或標距及夾具適配。導體伸長與材料強度的試件定義不同，制備狀態(tài)、截面應記錄；夾具局部損傷留證，不能因使用同一機器，就把不同試驗說成相同方法。

獨立盲碼試件交錯加載，保留載荷與變形過程。斷裂位置、滑移用于判斷有效性，破壞后不能復測同件；獨立試件差異含制樣及材料因素，不可全部稱作儀器重復誤差，異常亦須留原記錄。

揭盲報告明確對象、標距、加載路線和數(shù)據(jù)定義，再分盤比較。機械細表與材料依據(jù)未核實，不寫速度或閾值；不替代整纜承載能力，試件身份須在委托記錄閉合。

絕緣熱收縮

各盤、各位置獨立截取線芯，記錄切樣到標記的過程。保留導體與絕緣關系，按方法量標記距離，制備時間安排一致；端部已回縮的舊殘樣，不能代替新的原始試件及初始長度。

空氣烘箱、測溫及長度裝置形成測量鏈?？砂丛椒ㄔ试S的裸導體支撐，讓絕緣自由移動；不得夾住絕緣限制收縮，支撐方式保持一致，并留裝載位置照片，不能混用不同約束狀態(tài)。

各盤交錯安排箱內(nèi)位置與時段，保留處理前標距。按確認條件加熱后，在空氣中冷卻到相應狀態(tài)再讀數(shù)；熱、冷態(tài)長度不能混算，重復加熱同件也不充作新樣本，處理軌跡須可查。

揭盲報告附前后距離、收縮表達、溫度及支撐，說明制樣位置因素。與對應位置電容、結(jié)構(gòu)分析，不證明工藝原因；溫度、時間及容限不借其他分規(guī)范。

電纜耐沖擊試驗

各盤、各位置預分獨立沖擊段，受擊位置先標識。留對應未受擊段供原態(tài)電學比較；同段多個沖擊點不算多個獨立盤號，不能按結(jié)果另選落點，也不能事后改變分組與樣段身份。

剛性基座、落體、沖擊頭及釋放機構(gòu)按方法構(gòu)成沖擊鏈。頭形、質(zhì)量、落高和次數(shù)分別記錄，不只留名義能量；支撐和落點偏移可能改變損傷，各盤必須保持同一受控布置。

盲碼保存作用前后外觀、要求的電學響應及異常位置照片，各盤交錯試驗。重復沖擊是累積作用，不是無損重復；偏心落點先判斷有效性，不能刪去受損結(jié)果后換一個有利位置重新報告。

揭盲報告列有效數(shù)量、布置及對應響應，同等作用下才比較各盤。沖擊組不與破壞組串用；不重建現(xiàn)場碰撞史，未確認的條件和判據(jù)不自定，異常處置留記錄。

護套標志刮磨試驗

各盤取含真實標志的獨立試件，保存刮磨前文字及位置。打印、壓印等類型可能走不同路線，須先核對；不同類型不混作一個分布，無字區(qū)域磨損也不能冒充標志耐磨表現(xiàn)。

原方法分針式與水浸濕毛氈式，核查接觸頭及施力機構(gòu)。按標志類型和受控依據(jù)定路線，不用未知清洗液替代必要介質(zhì)；水浸毛氈狀態(tài)可追溯，實際采用的接觸材料及裝置也要記錄。

盲碼交錯刮磨，保存往復過程及文字辨識狀態(tài)。接觸頭、施力變化屬于裝置因素；同處重復刮磨是累積作用，不算獨立復讀。觀察者判讀差異另列，不能用后來判讀覆蓋原始照片。

揭盲報告分列裝置狀態(tài)、判讀差異及各盤標志表現(xiàn)，附照片。可辨識不等于護套機械合格；次數(shù)、載荷及界線依準確路線確認，未核實的文字等級不代替規(guī)范結(jié)論。

模擬安裝彎曲試驗

各盤獨立安裝組與原態(tài)組按軸向位置配準。先明確是受控安裝彎曲，不是運行壽命；不同路線不混比，沖擊或低溫處理過的樣段不能替代原態(tài)安裝段，也不把累積作用當作抽樣來源差異。

芯軸或?qū)獜澢b置，按方法核查路徑、端頭固定和作用長度。繞軸及其他安裝路線條件不同，查分規(guī)范和詳細依據(jù)后選擇；夾持不得引入局部損傷，否則可能掩蓋真實盤間響應差別。

盲碼交錯完成各盤作用，記錄布置及要求的前后電學量。盡量保持端頭和連接一致，改接另記；再次彎曲不是原態(tài)重復，累積次數(shù)也不是取樣數(shù)量，不能把改接漂移全部歸入彎曲響應。

揭盲報告按同一路線比較獨立樣段，列電學復接檢查。同等作用下比較來源差異，不倒推現(xiàn)場彎折；芯軸倍數(shù)、次數(shù)及容限未確認，不借其他型號，也不隱去無效作用。

抗拉試驗

各盤、各位置獨立分配完整纜段，記錄夾持間受力長度。源行沒有具體條款，保持原文，不補編號；這里只說明整纜受載的一般方法，拆出導體的拉伸結(jié)果不能替代完整電纜響應。

拉伸平臺、力傳感器及整纜夾持建立載荷路徑。夾持約束需受力的結(jié)構(gòu)，但不能引入局部損傷；先核對端頭和電學連接，同名義載荷而受力長度不同，不自動構(gòu)成可比作用條件。

按確認路線記錄連續(xù)加載及要求的傳輸測量，保留卸載后響應，各盤交錯安排。夾持滑移另記；同段再次加載可能累積損傷，不算新樣本，也不能把不同作用歷史的段落合并作原態(tài)組。

揭盲報告列受力長度、夾持、載荷路線和傳輸數(shù)據(jù)，再比較各盤。與拉力分別評價對象和定義；不推導施工牽引限值，速度、溫度及判據(jù)按確認的詳細依據(jù)。

溫度循環(huán)試驗

各盤溫度組預先獨立分配，保留原態(tài)電學量。盤繞需允許自由熱脹冷縮，軸向和箱內(nèi)位置分開編碼；緊扎造成的附加力不能當成材料溫度響應或盤間差異，也不串用其他受力組。

氣候箱、測溫及傳輸裝置按方法構(gòu)成試驗鏈。氣候箱循環(huán)不隨意改成液體浸入；布置和連接記錄完整，區(qū)分箱內(nèi)分布、儀器漂移與試樣變化，測量參考面變動還應單列說明。

按確認程序保存低溫、高溫、返回環(huán)境及恢復的溫度時間軌跡。各盤分散到時段與箱內(nèi)位置，傳輸讀數(shù)對應階段；初態(tài)與未恢復態(tài)不混比，循環(huán)中斷不刪除，恢復狀態(tài)也須登記。

揭盲報告按階段列各盤響應，對照保留段的電學復接分散。溫度組不與其他破壞組串用；循環(huán)條件和恢復狀態(tài)明確，有限循環(huán)不推定儲存壽命或整批可靠性，異常軌跡同樣留證。

燃燒試驗

各盤、各位置獨立取燃燒段，保存作用前結(jié)構(gòu)及護套照片。先核對源項目適用的火焰路線，單根和成束不能混稱；本段只說明已核實的單根方法，不補未列項目，也不排除其他必要路線。

單根裝置由金屬罩、燃燒器、供氣、計時及支撐構(gòu)成。原裝置采用技術(shù)級丙烷，不是未知液體；火焰與布置按受控方法核查，各盤保持相同調(diào)節(jié)及裝載條件，供氣狀態(tài)亦保留記錄。

盲碼記錄施焰、移火后燃燒停止和炭化范圍，各盤交錯安排?？刹翢熿婆c真實炭化要區(qū)分；同件重燒不算新樣本，異常氣流和中斷留證，不能用另次較好結(jié)果覆蓋初次試驗。

揭盲報告列火焰路線、原觀察及有效數(shù)量，再分盤比較。單根不替代成束或耐火表現(xiàn)；未實讀的細表要求不宣稱合格，時長和接受界線不猜填，也不憑有限試件判斷整批。

上海復興復華檢測保留模擬和數(shù)字通信及控制用電纜 有屏蔽層的600MHz及以下水平層及建筑物主干電纜的EN 50288-4-1:2013整塊范圍，抽樣不推定整批合格。