DL/T所涉及的OPGW光纜接頭盒，既要保護(hù)光纖接續(xù)，也要保持引纜固定與殼體密封。上海復(fù)興復(fù)華檢測溝通委托時，可把光纜結(jié)構(gòu)、盒體型號、裝配說明和接續(xù)配置一起核對，分別安排外觀、光學(xué)、機(jī)械及環(huán)境項目。合同采用2018版時保留相應(yīng)引用關(guān)系，新訂單另核適用版次和驗收邊界。

檢測對象項目/參數(shù)檢測標(biāo)準(zhǔn)（方法）序號名稱光纖復(fù)合架空地線接頭盒
部分項目電力架空光纜接頭盒第1部分：光纖復(fù)合架空地線接頭盒 DL/T 1外觀電力架空光纜接頭盒第1部分：光纖復(fù)合架空地線接頭盒 DL/T 7.12光學(xué)性能電力架空光纜接頭盒第1部分：光纖復(fù)合架空地線接頭盒 DL/T 7.23密封和再封裝性能電力架空光纜接頭盒第1部分：光纖復(fù)合架空地線接頭盒 DL/T 7.34浸水性能電力架空光纜接頭盒第1部分：光纖復(fù)合架空地線接頭盒 DL/T 7.45拉伸電力架空光纜接頭盒第1部分：光纖復(fù)合架空地線接頭盒 DL/T 7.5.26壓扁電力架空光纜接頭盒第1部分：光纖復(fù)合架空地線接頭盒 DL/T 7.5.37沖擊電力架空光纜接頭盒第1部分：光纖復(fù)合架空地線接頭盒 DL/T 7.5.48彎曲電力架空光纜接頭盒第1部分：光纖復(fù)合架空地線接頭盒 DL/T 7.5.59扭轉(zhuǎn)電力架空光纜接頭盒第1部分：光纖復(fù)合架空地線接頭盒 DL/T 7.5.610跌落電力架空光纜接頭盒第1部分：光纖復(fù)合架空地線接頭盒 DL/T 7.5.711振動電力架空光纜接頭盒第1部分：光纖復(fù)合架空地線接頭盒 DL/T 7.5.912溫度循環(huán)電力架空光纜接頭盒第1部分：光纖復(fù)合架空地線接頭盒 DL/T 7.6.213低溫沖擊電力架空光纜接頭盒第1部分：光纖復(fù)合架空地線接頭盒 DL/T 7.6.314持續(xù)高溫電力架空光纜接頭盒第1部分：光纖復(fù)合架空地線接頭盒 DL/T 7.6.4

外觀：記錄缺陷類型及分布

外觀從到樣盒體與引纜結(jié)構(gòu)開始，先登記型號、殼體部件、密封件和安裝附件。端口、接縫、緊固處及內(nèi)部接續(xù)盤各有照片，運(yùn)輸損傷和裝配痕跡分別標(biāo)記。未裝配狀態(tài)與完成裝配狀態(tài)不同，應(yīng)明確當(dāng)前樣件是哪一種狀態(tài)，后續(xù)試驗沿同一身份記錄。

觀察時整體輪廓與局部細(xì)節(jié)結(jié)合，檢查裂紋、缺件、毛刺、變形或表面污染。金屬表面反光可通過調(diào)整照明辨認(rèn)，原態(tài)照片仍保留，不能先修整缺陷再稱外觀正常。密封座面和引纜口的細(xì)小傷痕特別需要位置記錄，便于后續(xù)檢漏時回查。

內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀察關(guān)注光纖盤放、轉(zhuǎn)接及引纜固定是否與裝配文件一致，不以看起來整齊代替實際路徑核對。局部異物、壓迫光纖或緊固件接觸風(fēng)險分別描述，拆開觀察造成的狀態(tài)改變注明時間。外觀線索可與光學(xué)異常的位置關(guān)聯(lián)。

外觀結(jié)論限定可見表面和檢查狀態(tài)，不意味著密封、載荷承受或光傳輸已經(jīng)驗證。未能確認(rèn)性質(zhì)的跡象先保留客觀描述，不能憑顏色變化判定材料性能。報告讓每張圖能回到部件和位置，也不把盒體外觀評價擴(kuò)展為線路附件系統(tǒng)整體質(zhì)量結(jié)論。

光學(xué)性能：解釋損耗與光纖受力關(guān)系

光學(xué)性能先建立接續(xù)盤與各根光纖的身份表，接續(xù)點、盤放路徑和引出端相互對應(yīng)。測量前檢查測試連接器及引線端面，保持基準(zhǔn)光路穩(wěn)定。盒內(nèi)配置若在其他項目中調(diào)整，舊基線不能無說明繼續(xù)使用，裝配變化應(yīng)與光路記錄一起留存。

光功率測量觀察輸入輸出的損耗，光時域反射測量可輔助定位事件，兩種信息作用不同。測試波長、光路和連接狀態(tài)固定后取得可重復(fù)基線，臨時測試引線彎曲或端面污染會增加損耗，不能都?xì)w入接續(xù)點本身。

記錄各纖原始讀數(shù)、事件位置和測試時刻，機(jī)械或環(huán)境處理前后的軌跡沿同一編號比較。異常出現(xiàn)時先核查外部測試端，再查看盒內(nèi)盤纖和接續(xù)位置，復(fù)測保留原數(shù)據(jù)。儀器軌跡上的事件應(yīng)結(jié)合實際光路長度解釋，不憑圖形猜測部件位置。

光學(xué)結(jié)果只覆蓋受試配置和測量條件，不用短時損耗穩(wěn)定推定線路長期運(yùn)行。報告區(qū)分接續(xù)損耗、連接器影響與光纖彎曲線索，接受要求同委托依據(jù)銜接。盒體密封與機(jī)械項目仍獨(dú)立評價，光路正常不能代替它們的受試證據(jù)。

密封和再封裝性能：區(qū)分初裝密封與開啟后復(fù)測

密封和再封裝性能把初次閉合與重開后的閉合分別評價，準(zhǔn)備時保留密封圈、座面和引纜口狀態(tài)。清潔、裝配順序及部件身份沿用實際產(chǎn)品說明，不能把不同型號的安裝做法混在一起。光纖盤放位置也留圖，重開動作可能改變內(nèi)部應(yīng)力。

檢漏圍繞潛在泄漏路徑展開，接縫、引纜口和封堵口分別定位。采用與樣件相適應(yīng)的已確認(rèn)方法取得泄漏證據(jù)，檢漏前后實際裝配與環(huán)境狀態(tài)清楚記錄。裝置產(chǎn)生的氣泡、外表面附著氣泡和來自密封路徑的持續(xù)現(xiàn)象不能混為一類。

重開前先解除可能存在的壓力并確保安全，拆開后觀察密封件是否移位、污染或損傷。重新閉合后單獨(dú)檢漏并復(fù)測光路，保留與初裝相比改變的部件和動作。初裝數(shù)據(jù)不能復(fù)制到再封裝記錄，重新裝配的真實狀態(tài)是另一條證據(jù)。

報告將泄漏位置、裝配歷史和光學(xué)變化共同說明，不用某次無異常就推定多次維護(hù)狀態(tài)相同。檢漏壓力、過程和接受條件由相應(yīng)委托方法固定，不采用其他型號的設(shè)備示例值。結(jié)果限定受試部件組合，不能直接給出整條線路長期防水承諾。

浸水性能：關(guān)注水作用下密封保護(hù)

浸水性能使用實際閉合的接頭盒，先檢查引纜段、封堵口和內(nèi)部光纖配置，建立處理前光學(xué)基線。端部位置與盒體安裝姿態(tài)明確記錄，外部測試引線不能成為無記錄的進(jìn)水通道。初始密封件狀態(tài)和盒內(nèi)干濕情況可為試后定位提供比較依據(jù)。

水環(huán)境、受試范圍和過程時序與樣品身份對應(yīng)，裝置設(shè)定與實際水溫分別留存。浸水作用不等同噴淋或氣密檢漏，壓力路徑和端頭狀態(tài)可能不同。試驗期間按已確定的檢查節(jié)點觀察光路和外部現(xiàn)象，不隨意開盒改變受試狀態(tài)。

處理后先保留外觀與光學(xué)數(shù)據(jù)，再按規(guī)定的安全及觀察順序檢查內(nèi)部。表面帶水、開盒操作帶入的水和內(nèi)部原有進(jìn)水分別判斷，水痕位置同密封路徑關(guān)聯(lián)。測試端面受潮也可能形成光學(xué)異常，需與盒內(nèi)光纖損耗變化分開排查。

結(jié)果僅涵蓋實際浸水和裝配條件，不由一個無進(jìn)水樣件推定任意水深或長期淹沒。報告交代過程、觀察順序和異常定位，接受規(guī)則與所選方法銜接。浸水后光路正常與內(nèi)部無水不是完全相同的判斷，密封和傳輸兩條證據(jù)均應(yīng)保存。

拉伸：區(qū)分材料拉伸和引纜保持

拉伸項目關(guān)注引纜與盒體固定處如何傳遞軸向作用，試樣保留真實光纜及固定附件。標(biāo)記進(jìn)入盒體的長度基準(zhǔn)、夾持點和殼體支撐，取樣工具不能先破壞引纜端。光纖余長和接續(xù)盤位置留圖，受力可能通過固定結(jié)構(gòu)傳到內(nèi)部光路。

施加軸向力時讓力線與受試光纜路徑對應(yīng)，裝置夾持區(qū)和產(chǎn)品固定區(qū)分開。同步采集力、相對位移和光學(xué)響應(yīng)，夾具滑移會制造似乎電纜從端口移動的信號。受力階段觀察端口、固定附件與殼體的相對關(guān)系，不僅查看外殼是否破裂。

記錄加載過程、基準(zhǔn)移動、緊固件變化及逐纖讀數(shù)，異常事件注明發(fā)生時刻。試后檢漏可與受力前密封狀態(tài)比較，卸載后的恢復(fù)不抹去加載時的變化。夾口壓傷、外部測試連接松動與產(chǎn)品受力損傷分別留證，便于解釋真正的傳力路徑。

拉伸結(jié)論不能用普通光纜材料強(qiáng)度替代，也不自動形成線路運(yùn)行張力限值。試樣構(gòu)造、加載路徑與評價量按委托方案固定，報告說明受力中和卸載后的實際狀態(tài)。光學(xué)、固定及密封表現(xiàn)各有邊界，某一條正常記錄不能替代其他檢查。

壓扁：解釋徑向變形及局部損傷

壓扁以接頭盒成品結(jié)構(gòu)為對象，裝配和支撐狀態(tài)決定作用傳入殼體的路徑。加載前記錄盒體朝向、接觸區(qū)域與內(nèi)部光纖配置，原有凹陷和裂紋先定位。接頭盒受壓不同于裸光纜側(cè)壓，也不能用金屬材料試片的壓縮強(qiáng)度直接代表。

裝置在確認(rèn)接觸位置施加受壓作用，力與盒體變形同步記錄，支承偏斜和樣件側(cè)移需要觀察。壓板行程含夾具或機(jī)架響應(yīng)時不全部當(dāng)作殼體變形。光學(xué)測量鏈保持獨(dú)立固定，避免儀器引線受到壓板動作后產(chǎn)生無關(guān)損耗。

過程記錄包括接觸區(qū)變形、接縫變化和光學(xué)事件，內(nèi)部接續(xù)盤可能在殼體未開裂時受到擠壓。試后沿原受壓區(qū)觀察，再檢查密封狀態(tài)與固定件，照片對應(yīng)加載方向。卸載后外形恢復(fù)和加載中傳輸變化分別保存，不能只拍恢復(fù)后的盒體。

受壓結(jié)果限定真實裝配與施加條件，不直接轉(zhuǎn)成現(xiàn)場夾緊力或抗埋壓等級。力、位移和接受條件由對應(yīng)方法規(guī)定，材料強(qiáng)度和成品結(jié)構(gòu)評價不可互換。報告說明異常是否來自夾具、測試光路或樣件，并保留各條證據(jù)的原始位置。

沖擊：解釋瞬態(tài)載荷造成的破損

沖擊準(zhǔn)備圍繞殼體局部受擊部位展開，登記接縫、端口及支撐位置，內(nèi)部接續(xù)和固定配置保持可追溯。已有裂紋和運(yùn)輸壓傷在沖擊前留圖，不能用后來損傷覆蓋原態(tài)。受擊方向和接觸幾何先明確，裝置動作與樣件位置對應(yīng)。

沖擊是瞬態(tài)機(jī)械作用，局部接觸和支承影響損傷形式。實施時保持受擊點可定位，過程時序與光學(xué)觀察配對；裝置偏擊或樣件滑移屬于試驗異常，不與正常作用合并。殼體表面外觀和內(nèi)部光路是不同響應(yīng)，需要分別跟蹤。

受擊后先保存殼體原態(tài)、變形和裂紋，再與光學(xué)基線比較。外部連接器受振松動也可能改變讀數(shù)，排查時保留首次軌跡。沖擊部位與接縫、密封件關(guān)系有助于后續(xù)檢漏定位，切開或拆解產(chǎn)生的新跡象另列。

局部沖擊表現(xiàn)不等同整盒自由跌落或連續(xù)振動，不能由一個項目替代其他機(jī)械作用。實際施加條件和接受要求同所選方法銜接，報告描述位置、過程及異常。外觀完整不能單獨(dú)證明內(nèi)部光纖未受影響，光學(xué)穩(wěn)定也不能直接證明密封保持。

彎曲：解釋局部曲率及纖維受力

彎曲項目先標(biāo)記引纜段、盒體固定及彎曲作用區(qū)，內(nèi)部余纖與接續(xù)盤配置作為基線。進(jìn)入盒體的光纜若被臨時夾具額外壓緊，會改變傳力與曲率，應(yīng)記錄夾持邊界。安裝文件中的成品結(jié)構(gòu)與送檢配置逐一對應(yīng)，端口原態(tài)留圖。

受彎時實際曲率區(qū)與固定區(qū)分開，操作路徑和方向保持可重復(fù)。光路損耗隨動作記錄，測試引線本身不隨受試段一起任意彎動，否則難以判斷信號來自哪里。接頭盒局部轉(zhuǎn)動、光纜側(cè)移和真實彎曲分別觀察，裝置行程不能單獨(dú)說明曲率。

保留彎曲路徑、作用中及恢復(fù)后光學(xué)數(shù)據(jù)、端口位移和表面狀態(tài)。異?？赡茉趧幼鬟^程中出現(xiàn)又在恢復(fù)后消失，不能僅記錄結(jié)束讀數(shù)。外部連接重復(fù)性與內(nèi)部光纖應(yīng)力變化通過基線和位置記錄區(qū)分，必要的拆解延續(xù)原受彎方位。

結(jié)果限定相應(yīng)引纜和固定組合，不自然覆蓋所有安裝半徑或反復(fù)運(yùn)動壽命。具體彎曲路徑和評價條件按采用方法固定，報告將過程變化與殘留變化分開。彎曲無異常也不替代軸向拉伸、扭轉(zhuǎn)或密封評價，組合使用場景另行分析。

扭轉(zhuǎn)：解釋繞軸旋轉(zhuǎn)的結(jié)構(gòu)作用

扭轉(zhuǎn)關(guān)注引纜或產(chǎn)品規(guī)定部位受到繞軸作用后的狀態(tài)，準(zhǔn)備時給旋轉(zhuǎn)基準(zhǔn)、固定點和受試軸線留圖。光纜金屬層與內(nèi)部光纖可能有不同響應(yīng)，結(jié)構(gòu)身份不能只用外徑代替。臨時夾具和產(chǎn)品自身固定的職責(zé)分開，避免把夾具旋轉(zhuǎn)當(dāng)成樣件轉(zhuǎn)角。

操作中沿確認(rèn)路徑施加旋轉(zhuǎn)，轉(zhuǎn)動方向和階段分別記錄，軸向拉伸或彎曲如果同時出現(xiàn)應(yīng)注明。光路監(jiān)測保持測試端穩(wěn)定，外部引線被扭動造成的損耗先排查。殼體固定和引纜口相對移動可幫助識別作用真正傳入的區(qū)域。

保留方向、轉(zhuǎn)動過程、端口及緊固件位置變化，光學(xué)事件與動作時刻對應(yīng)。卸載后的回位、殘留變形和加載時異常各自記錄，內(nèi)部盤纖調(diào)整不得無說明進(jìn)行。復(fù)測保留原配置，使產(chǎn)品損傷與人為重新整理產(chǎn)生的改善不混為一談。

扭轉(zhuǎn)項目不能由普通往復(fù)彎曲或外殼材料強(qiáng)度替代，結(jié)果也不直接給出線路可用扭矩。施加方式及接受條件同對應(yīng)方法確認(rèn)，報告交代真實對象和旋轉(zhuǎn)邊界。某個方向正常不自動推定其他方向或組合載荷正常，密封與光學(xué)變化仍分別評價。

跌落：區(qū)分整盒落下與局部敲擊

跌落使用真實裝配的盒體與引纜組合，先登記質(zhì)量分布、突出部件和內(nèi)部接續(xù)配置。樣件是否包含安裝附件明確記錄，不把包裝件跌落與產(chǎn)品本體跌落混在一起。原先凹陷、接縫狀態(tài)和光學(xué)基線留存，受試姿態(tài)與預(yù)定碰撞區(qū)域可追溯。

自由運(yùn)動、撞擊接觸及支承面共同決定局部受力，實際釋放和接觸事件要留圖或時序。樣件發(fā)生額外碰撞、旋轉(zhuǎn)或引纜牽拉時單獨(dú)記錄，不能把所有動作簡化為一個落高數(shù)字。外部測量連接安全處理，避免測試引線成為額外約束。

跌落后先拍原態(tài)，再檢查殼體、接縫、端口和內(nèi)部光纖，光學(xué)結(jié)果與處理前基線對應(yīng)。外部測試端重新連接的影響通過連接記錄排查，盒體完整但接續(xù)盤移位的情況也應(yīng)留證。打開樣件后的新變化不得覆蓋落地后的原始狀態(tài)。

跌落表現(xiàn)只覆蓋實際姿態(tài)、裝配和作用條件，不能替代局部沖擊或運(yùn)輸包裝評價。接受要求按對應(yīng)方案固定，報告說明是否存在異常釋放和附加碰撞。光路、外觀和密封各自保存證據(jù)，不能憑一項恢復(fù)正常便認(rèn)定跌落全過程沒有損傷。

振動：解釋循環(huán)動態(tài)作用

振動準(zhǔn)備先核對接頭盒的固定結(jié)構(gòu)、夾具以及實際裝配，給殼體、引纜和內(nèi)部接續(xù)配置建立位置基準(zhǔn)。固定位置會影響動態(tài)響應(yīng)，夾具與安裝附件不宜無說明互換。測量傳感器、光學(xué)引線及受試方向也需要與樣品圖對應(yīng)，原始光路先穩(wěn)定。

振動臺的激勵和結(jié)構(gòu)響應(yīng)不是同一個信號，控制測點與盒體觀察位置要分清。頻率、幅值和過程時序與實際運(yùn)動聯(lián)系，傳感器安裝變化可能改變讀數(shù)。光學(xué)測量端獨(dú)立保持穩(wěn)定，不把測試線或連接器晃動帶來的損耗全部歸入內(nèi)部接續(xù)。

保存動態(tài)過程、固定件狀態(tài)和逐纖光學(xué)記錄，松動、共振響應(yīng)或瞬時異常注明位置與時刻。若調(diào)整夾具或傳感器，記錄前后狀態(tài)和原因；光路事件可與動作時序核對。試后外觀、密封及內(nèi)部盤纖變化分別留證，而不只保留結(jié)束讀數(shù)。

頻率范圍、作用程序和接受條件按所選接頭盒方法固定，不由通用振動設(shè)備的模式推定。結(jié)果不能自然換算現(xiàn)場壽命或線路風(fēng)振表現(xiàn)，結(jié)構(gòu)共振的觀察也不是強(qiáng)度判據(jù)本身。報告交代真實固定邊界和記錄范圍，異常夾具與樣件響應(yīng)分別解釋。

溫度循環(huán)：關(guān)注密封界面和纖維余長

溫度循環(huán)先建立盒體與引纜的裝配基線，內(nèi)部光纖余長、密封件及端口位置留圖。循環(huán)受試配置與機(jī)械項目后的樣件是否相同須明確，不能無記錄把已受損盒體當(dāng)成原始樣。溫度測點和光學(xué)回路身份一并登記，方便全過程追蹤。

箱體設(shè)定、實際溫度和樣件響應(yīng)分開記錄，溫度轉(zhuǎn)換及保持時序與光學(xué)數(shù)據(jù)對應(yīng)。材料熱脹差異可能改變密封接觸和盤纖應(yīng)力，測試引線本身的溫度變化也會產(chǎn)生信號?；鶞?zhǔn)連接穩(wěn)定有助于分辨這些來源，不只讀取箱內(nèi)結(jié)束溫度。

各階段光學(xué)軌跡、接縫及端口狀態(tài)保存先后關(guān)系，中斷、開門和連接調(diào)整注明時間。溫度變化中出現(xiàn)而恢復(fù)后消失的損耗仍有意義，不應(yīng)被結(jié)束讀數(shù)抹去。處理后檢漏與光學(xué)復(fù)查沿原裝配進(jìn)行，內(nèi)部拆開后的觀察另作記錄。

循環(huán)結(jié)果只覆蓋實際路徑及配置，不直接表示長期戶外可靠性。具體轉(zhuǎn)換、保持和評價要求由采用方法確定，不把快速溫變或恒溫暴露項目代替。報告區(qū)分作用中的響應(yīng)、恢復(fù)后的殘留和裝配異常，結(jié)論與相應(yīng)光纖及密封路徑對應(yīng)。

低溫沖擊：觀察局部受擊后的材料開裂

低溫沖擊將低溫狀態(tài)和局部瞬態(tài)作用結(jié)合，樣件仍保留實際殼體、密封和引纜配置。原受擊區(qū)表面及內(nèi)部光纖基線先留證，支撐與接觸區(qū)域分別標(biāo)記。常溫沖擊完好的樣品不能直接提供低溫脆裂表現(xiàn)，實際調(diào)溫過程需要獨(dú)立記錄。

樣品及接觸裝置的溫度狀態(tài)與沖擊時刻對應(yīng)，轉(zhuǎn)移或操作造成回溫應(yīng)注明。受擊路徑保持明確，偏擊、支撐壓傷及樣品滑移同正常作用分開。光學(xué)測量鏈若因低溫結(jié)露受到影響，也應(yīng)與樣件內(nèi)部傳輸變化分別排查。

沖擊后保存低溫處理歷史、受損位置和原態(tài)照片，檢查殼體裂紋、端口及密封接觸變化。光學(xué)復(fù)查同前基線逐纖比較，后續(xù)開盒或切樣帶來的傷痕另列。只留升溫后的外觀可能遺漏作用過程中出現(xiàn)的局部開裂和損耗事件。

結(jié)果限定相應(yīng)低溫受擊條件，不以常溫數(shù)據(jù)或單獨(dú)低溫存放結(jié)果替代。能量、支承與檢查節(jié)點同對應(yīng)方法銜接，報告說明異常及其影響。外殼、光路和密封表現(xiàn)各自獨(dú)立，某一項無異常不能推定接頭盒在所有寒冷場景下均可使用。

持續(xù)高溫：關(guān)注密封材料及光路穩(wěn)定

持續(xù)高溫關(guān)注一段連續(xù)熱作用下的裝配和性能變化，準(zhǔn)備時保留密封件、緊固和內(nèi)部盤纖原態(tài)。樣件溫度位置與光學(xué)回路身份確定，熱作用前的數(shù)據(jù)形成比較基線。不同材料或不同型號的盒體不無說明混用同一組熱暴露記錄。

熱環(huán)境控制不只看箱體設(shè)定，還要保留樣件附近實際溫度、放置和空氣狀態(tài)。連續(xù)保持與溫度循環(huán)不同，開門、停機(jī)和連接調(diào)整均可能改變有效過程。光路測試引線的受熱與樣件受熱區(qū)分開，讓信號變化有明確來源。

在已確定節(jié)點保存光學(xué)變化、端口和殼體狀態(tài)，軟化、位移及密封接觸變化與時間聯(lián)系?；謴?fù)后的讀數(shù)與高溫作用中的讀數(shù)分別留存，不能只拍冷卻后的完好外形。試后檢漏及內(nèi)部觀察沿原部件身份進(jìn)行，裝配調(diào)整的影響另作說明。

持續(xù)高溫結(jié)果不直接提供壽命換算，也不能替代冷熱循環(huán)、耐火或線路運(yùn)行載荷評價。實際溫度時序和接受要求同所用方法固定，報告交代受試配置及恢復(fù)狀態(tài)。結(jié)論把持續(xù)作用響應(yīng)和殘留變化分開，未覆蓋的組合環(huán)境另評適用性。

DL/T的接頭盒評價應(yīng)把殼體、引纜口、內(nèi)部光纖及裝配狀態(tài)貫穿各項記錄，初裝結(jié)果不替代重開后的狀態(tài)。舊版合同與新委托適用文件分別核對，不能將機(jī)械外觀正常推定為光學(xué)和密封均正常?？上蛏虾?fù)興復(fù)華檢測提供真實裝配資料，溝通完整受試組合及報告用途。