執(zhí)行標準：GB/T 6394-2017《金屬平均晶粒度測定方法》，海外項目常用 ASTME112，適用于單相金屬材料平面二維平均晶粒評定；雙峰 /混晶（雙重晶粒度）不適用本標準，需用 GB/T 24177中國標準在...
將金屬試樣經(jīng)切割、研磨、拋光、腐蝕，在金相顯微鏡下顯現(xiàn)晶界，通過比較法、面積法、截點法三種方式，評定平均晶粒度等級G，同時可給出平均截距長度。
晶粒度 G 數(shù)字越大，晶粒越細：
G1~G3：粗晶
G4~G6：中等晶粒
G7 及以上：細晶
取樣取代表性部位；軋制 /鍛件要區(qū)分橫向、縱向截面，試樣有效觀測面≥10mm×10mm；奧氏體晶粒度需按要求做淬火燒蝕顯示原始奧氏體晶界。
制樣（關鍵環(huán)節(jié)）切割→粗磨→細磨→拋光至鏡面→化學腐蝕（碳鋼常用4% 硝酸酒精；不銹鋼用王水 / 草酸電解腐蝕；鋁合金用凱勒試劑），腐蝕至晶界清晰連續(xù)，不能過腐蝕麻點或腐蝕不足看不清晶界。
金相顯微觀測根據(jù)晶粒大小選擇放大倍數(shù)：100× / 200× / 400× /500×；隨機選取≥3 個視場，仲裁一般≥5 個視場。
晶粒度評定（3 種方法）
?比較法（日常質(zhì)檢）：顯微鏡下組織直接對照標準評級圖譜，目視對比評級，快速，適合常規(guī)驗收；精度±0.5 級。
? 面積法（Jeffries 法）：在選定視場內(nèi)，統(tǒng)計網(wǎng)格內(nèi)完整晶粒 +邊界截斷晶粒，計算單位面積晶粒數(shù)量，換算 G 等級。
? 截點法（仲裁，定量準）：在圖像上用圓形 /直線測試網(wǎng)格，統(tǒng)計測試線穿過晶界交點，計算平均截距長度，換算晶粒度等級，工程仲裁優(yōu)先采用。
出具報告報告內(nèi)容：樣品信息、取樣方向、腐蝕方式、放大倍數(shù)、檢測方法、平均晶粒度等級G、平均截距長度，附帶金相照片。
? 適用：碳鋼、合金鋼、不銹鋼、鋁、銅、鈦等單相再結晶金屬，可測基體相晶粒度 ?不適用：
明顯雙峰混晶（大小晶粒兩套組織）（雙重晶粒度另測）
嚴重變形拉長未再結晶組織（需協(xié)商）
三維真實晶粒尺寸（本方法只是二維截面）
取樣方向很關鍵：板材鍛件縱向、橫向晶粒度結果會不一樣，圖紙無說明要提前確認；
原始奧氏體晶粒度：普通腐蝕看不到，需要專門氧化法 / 淬硬法顯示奧氏體晶界；
制樣缺陷（劃痕、麻點、剝落）會直接造成晶粒度判讀偏大 / 偏小；
多相合金：只可以單獨評定其中某一相晶粒，不能直接整體評定。
金相顯微照片
晶粒度等級 G
平均截距長度
檢測標準、檢測方法、取樣說明
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