納米粉體全套檢測服務（粒度 + 形貌 + 純度）

一、粒度分布測試（核心納米粒徑指標）

1. 動態(tài)光散射 DLS（液體分散，測水相 / 有機溶劑納米顆粒）

2. 激光粒度儀（干粉 / 高濃漿料）

3. 透射電鏡 TEM 粒度統(tǒng)計（真實一次原生粒徑，納米金標準方法）

電鏡圖像手動統(tǒng)計數百顆粒，給出原生粒徑區(qū)間、平均一次粒徑，區(qū)分團聚與單分散顆粒

二、微觀形貌表征（直觀形貌、晶體結構、分散狀態(tài)）

1. 透射電子顯微鏡 TEM

2. 觀察：單顆粒形貌、尺寸、核殼結構、晶格條紋、晶體缺陷、團聚程度

3. 配套：SAED 選區(qū)電子衍射，判斷晶型 / 無定形

4. 掃描電子顯微鏡 SEM

5. 粉體整體堆積形貌、團聚形態(tài)、表面凹凸、顆粒球型 / 棒狀 / 片狀 / 針狀形貌

6. 導電差粉體可噴金測試

7. 原子力顯微鏡 AFM超薄納米薄膜、二維納米片厚度、表面粗糙度

三、純度與成分分析（元素、物相、雜質、含量）

（1）元素純度（雜質含量）

1. XRF X 射線熒光：快速主量元素半定量，無損粉體

2. ICP-OES/量重金屬、有害雜質精準定量（ppm 級），可測金屬納米、氧化物粉體

3. XPS X 射線光電子能譜：表面元素價態(tài)、表面雜質、表面官能團（納米粉體表面改性專用）

（2）物相純度（晶相，區(qū)分同元素不同晶體）

XRD X 射線衍射：

（3）有機 / 表面改性純度

1. FTIR 紅外光譜：粉體表面包覆有機物、官能團鑒定

2. TGA 熱重分析：包覆層含量、水分、殘留溶劑、熱分解純度

3. 元素分析 C/H/N/O：碳納米粉體、有機改性納米材料碳含量

（4）陰離子 / 可溶性雜質

離子色譜 IC：粉體浸出離子、根、硝酸根等可溶性鹽雜質

四、配套納米粉體關鍵附加檢測項目

1. BET 比表面積 + 孔徑分布納米粉體核心指標：比表面積、介孔 / 微孔孔徑、孔容，換算等效球形粒徑

2. 水分 / 揮發(fā)分：卡爾費休水分測試

3. 重金屬有害雜質檢測（RoHS 合規(guī)）

4. 密度：真密度、堆密度、振實密度

5. 分散穩(wěn)定性：Zeta 電位、沉降觀察

五、常規(guī)檢測組合套餐推薦

套餐 1：基礎粒度形貌（研發(fā)小樣）

DLS 粒徑分布 + TEM 形貌粒徑統(tǒng)計 + BET 比表面積

套餐 2：全物性 + 物相純度（量產質控）

XRD 物相純度 + BET + SEM 形貌 + DLS 粒度 + TGA 熱重

套餐 3：高純納米粉體全項（高純金屬 / 陶瓷納米粉）

TEM+SAED + XRD + ICP-MS 雜質定量 + XPS 表面價態(tài) + FTIR + BET + Zeta電位

六、可測納米粉體品類

納米二氧化硅、納米氧化鋁、納米氧化鋅、納米碳酸鈣、納米鈦白粉、納米金屬粉（銀、銅、鎳、鐵）、碳納米管、石墨烯、納米羥基磷灰石、納米陶瓷粉體、納米稀土粉體、納米填料、納米催化粉體等

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