該產(chǎn)品用于半導(dǎo)體制造全流程中晶圓的電性失效及電氣故障檢測，檢測對象覆蓋各類半導(dǎo)體晶圓，核心特性是精準(zhǔn)定位電性異常引發(fā)的電氣故障，為晶圓性能優(yōu)化、生產(chǎn)工藝調(diào)整提供科學(xué)數(shù)據(jù)支撐，廣泛應(yīng)用于芯片研發(fā)、晶圓制造、封裝測試等領(lǐng)域。開展相關(guān)檢測可及時排查晶圓電性失效的根源，減少因電氣故障導(dǎo)致的晶圓報(bào)廢，提升產(chǎn)品良率，保障半導(dǎo)體器件的穩(wěn)定性能，助力半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈的品質(zhì)管控。
檢測標(biāo)準(zhǔn)參考：
1、GB/T 25080-2010 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法
2、GB/T 1551-2016 半導(dǎo)體 硅單晶電阻率測定方法
3、SJ/T 11565-2015 半導(dǎo)體晶圓 電性測試方法
4、SJ/T 11365-2017 集成電路 失效分析方法
檢測范圍：
8英寸晶圓、12英寸晶圓、邏輯晶圓、存儲晶圓、功率晶圓、模擬晶圓、射頻晶圓、傳感器晶圓、碳化硅晶圓、氮化鎵晶圓
檢測周期與費(fèi)用：
到樣后5-7個工作日（可加急），具體費(fèi)用根據(jù)檢測項(xiàng)目與晶圓類型對接報(bào)價(jià)
檢測流程：
1、溝通需求；
2、寄樣或上門取樣；
3、樣品核驗(yàn)；
4、電性失效分析；
5、編制檢測報(bào)告
儀器設(shè)備：
實(shí)驗(yàn)室設(shè)施完備，建有色譜分析室、光譜分析室、無機(jī)預(yù)處理室、熱處理室、有機(jī)預(yù)處理室；配置有HS-GCMS、PY-GCMS、GC-FID/ECD/TCD、ICP-OES、AAS、UV、金相顯微鏡、MICRO-IR、LC、XRF等儀器。
資質(zhì)證書：
已獲得檢驗(yàn)檢測機(jī)構(gòu)資質(zhì)認(rèn)定證書（CMA資質(zhì)證書）、中國合格評定國家認(rèn)可委員會實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可證書（CNAS資質(zhì)證書）、農(nóng)產(chǎn)品質(zhì)量安全檢測機(jī)構(gòu)考核合格證書（CATL資質(zhì)證書）。
服務(wù)客戶：
我院每年出具超過20000份報(bào)告，累計(jì)服務(wù)客戶45000多家，客戶類型包含公檢法單位、高校及科研院所、500強(qiáng)企業(yè)、跨國公司等。
檢測項(xiàng)目：
電性參數(shù)穩(wěn)定性、電氣導(dǎo)通性、絕緣性能、阻抗特性、電容特性、電阻分布、電流泄漏、電壓耐受性、信號完整性、功耗特性、時序匹配性、電性一致性
清析技術(shù)研究院的優(yōu)勢：
北京清析技術(shù)研究院是硬核技術(shù)型第三方檢測機(jī)構(gòu)，擁有CMA/CNAS資質(zhì)，旗下司法鑒定所獲評司法鑒定機(jī)構(gòu)誠信等級評估A級機(jī)構(gòu)。依托中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)打造技術(shù)團(tuán)隊(duì)，500余名技術(shù)人員碩博占比超80%；配備500余臺套高端儀器，建全流程質(zhì)控追溯體系?？偛勘本?9家分院輻射全國，提供分析、檢測、測試、鑒定、研發(fā)等技術(shù)服務(wù)，為公檢法單位、高?？蒲性核捌髽I(yè)提供全流程技術(shù)解決方案。