本機構(gòu)專注于電子級材料純度檢測，檢測對象覆蓋半導(dǎo)體、集成電路、顯示面板等領(lǐng)域的各類電子級材料，其純度直接決定電子元器件的性能與壽命，微量雜質(zhì)可能引發(fā)電路失效、性能衰減等問題。專業(yè)檢測可把控原料品質(zhì)，為電子產(chǎn)業(yè)鏈提供可靠保障，助力企業(yè)規(guī)避生產(chǎn)風(fēng)險。
【清析技術(shù)研究院的優(yōu)勢】
北京清析技術(shù)研究院是硬核技術(shù)型第三方檢測機構(gòu)，擁有CMA/CNAS資質(zhì)，旗下司法鑒定所獲評司法鑒定機構(gòu)誠信等級評估A級機構(gòu)。依托中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)打造技術(shù)團隊，500余名技術(shù)人員碩博占比超80%；配備500余臺套高端儀器，建全流程質(zhì)控追溯體系。總部北京，29家分院輻射全國，提供分析、檢測、測試、鑒定、研發(fā)等技術(shù)服務(wù)，為公檢法單位、高?？蒲性核捌髽I(yè)提供全流程技術(shù)解決方案。
【檢測范圍】
半導(dǎo)體硅片、光刻膠、電子特氣、電子級化學(xué)品、晶圓拋光液、靶材、電子級玻璃纖維、電子級樹脂、電子級銅箔、電子級錫球
【檢測流程】
1、溝通需求；2、寄樣或上門取樣；3、樣品登記與初檢；4、實驗檢測分析；5、數(shù)據(jù)整理與報告編制；6、報告審核與交付
【檢測標(biāo)準(zhǔn)參考】
1、GB/T 24576-2009 電子級化學(xué)品通用規(guī)范
2、GB/T 1557-2018 硅單晶切薄片
3、SJ/T 11626-2016 電子級多晶硅
4、GB/T 31190-2014 電子特氣純度測定方法
【檢測項目】
總雜質(zhì)含量、金屬雜質(zhì)含量、非金屬雜質(zhì)含量、顆粒度、純度偏差、水分含量、氧含量、碳含量、氮含量、揮發(fā)分、游離酸含量、顆粒分布
【儀器設(shè)備】
實驗室設(shè)施完備，建有色譜分析室、光譜分析室、無機預(yù)處理室、熱處理室、有機預(yù)處理室；配置有HS-GCMS、PY-GCMS、GC-FID/ECD/TCD、ICP-OES、AAS、UV、金相顯微鏡、MICRO-IR、LC、XRF等儀器。
【資質(zhì)證書】
已獲得檢驗檢測機構(gòu)資質(zhì)認(rèn)定證書（CMA資質(zhì)證書）、中國合格評定國家認(rèn)可委員會實驗室認(rèn)可證書（CNAS資質(zhì)證書）、農(nóng)產(chǎn)品質(zhì)量安全檢測機構(gòu)考核合格證書（CATL資質(zhì)證書）。
【服務(wù)模式】
提供上門采樣、加急檢測、非標(biāo)方法開發(fā)與驗證等服務(wù)，滿足客戶多樣化需求。自覺接受市場監(jiān)督管理部門、客戶及社會各界的監(jiān)督，對客戶咨詢與投訴及時響應(yīng)、答復(fù)并處理。
【檢測周期與費用】
到樣后5-7個工作日，可加急，具體費用根據(jù)檢測項目與需求對接機構(gòu)工程師確認(rèn)報價