硅透鏡檢測是保障光學(xué)精度、透過性能與結(jié)構(gòu)可靠性的關(guān)鍵技術(shù)環(huán)節(jié)。通過專業(yè)檢測設(shè)備與標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法，對硅透鏡的光學(xué)參數(shù)、外觀缺陷、尺寸精度及環(huán)境適應(yīng)性進(jìn)行系統(tǒng)檢測，可精準(zhǔn)判定產(chǎn)品是否符合紅外光學(xué)系統(tǒng)使用要求。檢測能有效識(shí)別表面瑕疵、厚度偏差、透過率不足、應(yīng)力不均等質(zhì)量問題，避免影響成像、傳輸與探測效果，為紅外成像、激光設(shè)備、醫(yī)療儀器、安防監(jiān)控等領(lǐng)域提供高質(zhì)量光學(xué)元件，是產(chǎn)品出廠檢驗(yàn)、質(zhì)量管控與工程應(yīng)用的重要依據(jù)。

應(yīng)用場景

紅外成像系統(tǒng)、激光設(shè)備、醫(yī)療檢測儀器、安防監(jiān)控鏡頭、工業(yè)檢測設(shè)備、航空航天光學(xué)組件、車載紅外系統(tǒng)、光譜分析儀、熱成像設(shè)備、光學(xué)傳感裝置、夜視儀器、光學(xué)通訊設(shè)備、精密測量儀器、光學(xué)系統(tǒng)、半導(dǎo)體檢測設(shè)備

檢測范圍

單晶硅透鏡、多晶硅透鏡、紅外硅透鏡、平面硅透鏡、球面硅透鏡、非球面硅透鏡、鍍膜硅透鏡、高精度硅透鏡、大尺寸硅透鏡、小口徑硅透鏡、耐高溫硅透鏡、高透硅透鏡、定制硅透鏡、標(biāo)準(zhǔn)硅透鏡、光學(xué)級(jí)硅透鏡

檢測項(xiàng)目

透過率、折射率、表面粗糙度、曲率半徑、尺寸精度、厚度偏差、平行度、面形精度、表面缺陷、應(yīng)力分布、鍍膜附著力、耐熱性能、耐沖擊性能、外觀質(zhì)量、光譜響應(yīng)特性

檢測標(biāo)準(zhǔn)

1、GB/T 25265-2010 《紅外光學(xué)材料透過率測試方法》

2、GB/T 17194-2012 《光學(xué)元件表面疵病檢測方法》

3、GB/T 17193-2012 《光學(xué)元件尺寸精度檢測方法》

4、GB/T 31906-2015 《光學(xué)鏡片曲率半徑測量方法》

5、GB/T 26332-2010 《光學(xué)晶體折射率測試方法》

6、GB/T 1185-2016 《光學(xué)零件表面粗糙度及其檢測方法》

檢測周期

到樣后5-7個(gè)工作日（可加急），根據(jù)樣品及其檢測項(xiàng)目/方法會(huì)有所變動(dòng)，具體需咨詢工程師。

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