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檢測(cè)資質(zhì)
CMA/CNAS檢測(cè)資質(zhì)
檢測(cè)周期
到樣后7-10個(gè)工作日(可加急)
檢測(cè)地點(diǎn)
全國

小角XRD測(cè)試是對(duì)材料納米尺度有序結(jié)構(gòu)、長周期結(jié)構(gòu)及界面特性開展的專業(yè)表征工作,通過精準(zhǔn)測(cè)試手段評(píng)估其晶面間距、晶粒尺寸、有序性等關(guān)鍵維度,保障材料研發(fā)、性能優(yōu)化及質(zhì)量評(píng)估的準(zhǔn)確性,是納米材料、復(fù)合材料、薄膜材料等領(lǐng)域研究與生產(chǎn)環(huán)節(jié)的重要舉措。

檢測(cè)范圍

納米顆粒材料、聚合物基復(fù)合材料、介孔材料、薄膜材料、層狀黏土材料、納米纖維薄膜、量子點(diǎn)復(fù)合材料、金屬有機(jī)框架材料、分子篩材料、生物礦化材料、儲(chǔ)能電極材料、半導(dǎo)體薄膜材料、涂層功能材料、納米復(fù)合材料、多孔陶瓷材料

檢測(cè)項(xiàng)目

晶面間距測(cè)定、長周期結(jié)構(gòu)參數(shù)計(jì)算、納米級(jí)晶粒尺寸測(cè)定、孔隙結(jié)構(gòu)有序性分析、層間距離檢測(cè)、晶體取向度評(píng)估、長程有序結(jié)晶度檢測(cè)、相分離尺寸分析、納米晶排列規(guī)整度評(píng)估、界面結(jié)構(gòu)表征、散射強(qiáng)度分布測(cè)試、衍射峰位偏移分析、衍射峰半高寬計(jì)算、微晶尺寸分布檢測(cè)、有序結(jié)構(gòu)缺陷分析

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

1、GB/T 30905-2014《納米粉體X射線衍射法測(cè)定晶粒尺寸及點(diǎn)陣畸變》:規(guī)定納米粉體材料小角XRD測(cè)試中晶粒尺寸及點(diǎn)陣畸變的檢測(cè)原理、操作步驟及結(jié)果計(jì)算。

2、HG/T4890-2016《X射線衍射分析法通則》:明確X射線衍射分析(含小角測(cè)試)的通用技術(shù)要求、儀器校準(zhǔn)及檢驗(yàn)規(guī)則。

3、GB/T 23898-2009《粉末冶金材料X射線衍射分析方法》:提供粉末冶金材料小角XRD測(cè)試的樣品制備、測(cè)試流程及數(shù)據(jù)處理方法。

4、ISO 13925:2019《金屬材料殘余應(yīng)力的X射線衍射測(cè)定方法》:適用于金屬材料小角XRD測(cè)試中殘余應(yīng)力及結(jié)構(gòu)特性的關(guān)聯(lián)檢測(cè)。

5、GB/T19587-2017《氣體吸附BET法測(cè)定固態(tài)物質(zhì)比表面積》:與小角XRD測(cè)試配合,用于多孔材料結(jié)構(gòu)特性的綜合檢測(cè)與驗(yàn)證。

服務(wù)客戶

累計(jì)為公檢法單位、高校及科研機(jī)構(gòu)、企業(yè)等超過10萬家客戶提供咨詢、分析、檢測(cè)、測(cè)試、鑒定研發(fā)等技術(shù)服務(wù)。

專業(yè)儀器設(shè)備

500余臺(tái)(套)專業(yè)儀器設(shè)備,包括紅外光譜(IR)、核磁共振(NMR)、氣相色譜儀(GC)、X射線熒光光譜(XRF)等。


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更新時(shí)間
鉆石會(huì)員
第2年
統(tǒng)一社會(huì)信用代碼
91110108MAEA1BK200
成立日期
2025年01月08日
法定代表人
徐明
注冊(cè)資本
1

主營產(chǎn)品

氣體檢測(cè),配方分析,失效分析,中藥成分檢測(cè),油墨成分分析

經(jīng)營范圍

許可項(xiàng)目:第一類增值電信業(yè)務(wù);第二類增值電信業(yè)務(wù);檢驗(yàn)檢測(cè)服務(wù)。(依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目,經(jīng)相關(guān)部門批準(zhǔn)后方可開展經(jīng)營活動(dòng),具體經(jīng)營項(xiàng)目以相關(guān)部門批準(zhǔn)文件或許可證件為準(zhǔn))一般項(xiàng)目:自然科學(xué)研究和試驗(yàn)發(fā)展;技術(shù)服務(wù)、技術(shù)開發(fā)、技術(shù)咨詢、技術(shù)交流、技術(shù)轉(zhuǎn)讓、技術(shù)推廣;信息技術(shù)咨詢服務(wù);科技中介服務(wù);信息系統(tǒng)集成服務(wù);軟件開發(fā);數(shù)據(jù)處理和存儲(chǔ)支持服務(wù);科普宣傳服務(wù);會(huì)

公司簡介

映山紅智慧(北京)檢測(cè)科技有限公司成立于2025年01月08日,注冊(cè)地位于北京市海淀區(qū)五道口東王莊甲1號(hào)3幢5層504號(hào),法定代表人為徐明。經(jīng)營范圍包括許可項(xiàng)目:第一類增值電信業(yè)務(wù);第二類增值電信業(yè)務(wù);檢驗(yàn)檢測(cè)服務(wù)。(依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目,經(jīng)相關(guān)部門批準(zhǔn)后方可開展經(jīng)營活動(dòng),具體經(jīng)營項(xiàng)目以相關(guān)部門批準(zhǔn)文件或許可證件為準(zhǔn))一般項(xiàng)目:自然科學(xué)研究和試驗(yàn)發(fā)展;技術(shù)服務(wù)、技術(shù)開發(fā)、技術(shù)咨詢、技術(shù)交流、技術(shù)轉(zhuǎn)讓、技術(shù)推廣;信息技術(shù)咨詢服務(wù);科技中介服...

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