batop公司簡介

batop成立于2003年，是一家隸屬于德國耶拿大學(xué)的私人創(chuàng)新型公司。公司配備了來自于實驗室領(lǐng)域的專業(yè)化技術(shù)開發(fā)和生產(chǎn)設(shè)計團(tuán)隊，使得其公司產(chǎn)品具有很高的品質(zhì)和具有競爭力的價格。在過去幾年里，batop一直致力于太赫茲光電導(dǎo)天線（pca）和 太赫茲時域光譜儀系統(tǒng)（thz-tds）的研發(fā)。batop不僅提供單帶隙天線，還包括整合了微透鏡的高能大狹縫交叉天線陣列。batop自主研發(fā)的太赫茲時域光譜儀性能穩(wěn)定，各項參數(shù)，功能多樣：可實現(xiàn)快速掃描、配合外置的光纖耦合天線實現(xiàn)角度掃描、成像等功能。 batop借助強(qiáng)大的研發(fā)能力來不斷提高自己的產(chǎn)品，其研發(fā)設(shè)計理念始終從客戶的角度出發(fā)，**的滿足他們的需求。

tds產(chǎn)品特點：

——內(nèi)置樣品倉，可充氮氣進(jìn)行透反射測量

——規(guī)格多樣的外置光纖耦合天線可選

——外置角度掃描裝置可選

——外置成像模塊可選

——t3ds軟件支持

     tds10xx各型號參數(shù)規(guī)格：

實測thz信號：

tds10xx可選配件：

                      快速掃描模塊 fsu                                                           光纖耦合天線對 2fca

 成像模塊 iu （電機(jī)行程可選15cm、30cm、45cm）                                         角度掃描模塊 t2t

透射樣品架 sht（放在樣品倉內(nèi)，用于透射譜測試）                        反射樣品架 shr（放在樣品倉內(nèi)，用于反射譜測試） 

      光纖耦合天線樣品架 shf（可測試透射反射譜）                       衰減全反射樣品架 sha（用于衰減全反射atr測試）

2歐元硬幣成像：

安裝現(xiàn)場：