| 一裂片後的oled cell,在還沒(méi)bond driver ic之前, 將所有正極短路, 所有負(fù)極亦短路(以pm型為例),而後在該二端點(diǎn)上加上正及負(fù)的電壓做測(cè)試 | | 該交流測(cè)試電壓的大小, 頻率,及週波數(shù)皆為programmable(可在主控pc上設(shè)定), 在一次的交流測(cè)試後, 緊接著為量測(cè)段, 使用者先設(shè)定反偏電壓,ha570會(huì)對(duì)每一片面板量測(cè)其反偏逆電流並記錄, 解析精度至10na. | | 無(wú)論順向或逆向,ha570均提供限流保護(hù), 可使某些先期不穩(wěn)定的產(chǎn)品不至於斷電而有可能在持續(xù)的交流測(cè)試中復(fù)元. | | oled cell是置於治具—電木tray盤(pán)上,一個(gè)tray可置放30pc cells, 一爐共可容納 : 24 tray x 30 cell = 720cell/爐. |
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| aging process |
| item | parameter | remark | totalcycle
| programmable 1~100
| | | tt | 1~250 min., 1 min.step
| fwd voltage | | tm | 60 sec. | measurement cycletime | | vft | 0~+20v, 0.1vstep
| set for each cycle/eachtray | | vrt | 0~-20v, 0.1v step | set for each cycle/eachtray | | vrm | 0~-20v, 0.1v step | reverse voltage of tm, set foreach cycle | | f | 1~100hz, 1 hz step | 1/t, frequency of tt | | duty cycle | 5%~, 1% step | tf/t, rising time/falling time< 10us | | if | 200ma max. | output current |
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| measurement |
| item | parameter | remark | | if | 0.1ma~200ma, 0.1mastep
| fwdcurrent | | ir | accuracy：
1. 10na~1ua：10na
2. 1ua~100ua：5% | static-state leakagecurrent |
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| current limit |
item | parameter | remark | if currentlimit
| 200ma | set for eachcell | | ir current limit | 200ma | set for eachcell |
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