穩(wěn)定同位素分析：如氧同位素（δ1?O）、氫同位素（δD）、碳同位素（δ13C）、硫同位素（δ3?S）、氮同位素（δ1?N）等的比值測定，用于追溯礦物形成的環(huán)境（如溫度、流體來源）、物質來源及地質演化過程。

放射性同位素分析：如鈾 - 鉛（U-Pb）、銣 - 鍶（Rb-Sr）、鉀 - 氬（K-Ar）、氬 - 氬（Ar-Ar）、釤 -釹（Sm-Nd）等同位素體系的比值及含量測定，主要用于礦物定年（確定形成時代）和同位素示蹤。

同位素組成分布：針對某些礦物中同位素的不均一性，分析其在礦物內部的空間分布特征，揭示礦物生長過程或后期改造信息。

氣體同位素比值質譜儀（IRMS）：主要用于穩(wěn)定同位素（如 O、H、C、S、N）的比值分析，需將礦物樣品轉化為氣體（如CO?、H?O、SO?等）后檢測。

熱電離質譜儀（TIMS）：適用于放射性同位素（如 U-Pb、Rb-Sr、Sm-Nd等）的高精度比值測定，樣品需經過化學分離純化后，通過熱電離方式離子化。

多接收電感耦合等離子體質譜儀（MC-ICP-MS）：可同時測定多種同位素比值，廣泛應用于金屬穩(wěn)定同位素和放射性同位素分析，具有高靈敏度和快速分析能力。

二次離子質譜儀（SIMS）：能夠對礦物微區(qū)（微米級）的同位素組成進行原位分析，無需復雜的化學前處理，可直接測定礦物顆粒內部的同位素分布。

激光剝蝕電感耦合等離子體質譜儀（LA-ICP-MS）：結合激光剝蝕技術與質譜分析，可對礦物進行原位同位素分析，適用于微區(qū)定年和同位素示蹤。

按檢測項目與同位素類型收費：穩(wěn)定同位素分析（如 δ1?O、δ13C）費用相對較低；放射性同位素定年（如 U-Pb定年）、微區(qū)原位同位素分析（如 SIMS 分析）因技術復雜，費用較高。

按樣品數(shù)量與前處理復雜度收費：批量樣品檢測時，單個樣品費用可能有折扣；樣品前處理復雜（如需要化學分離純化的放射性同位素樣品）或基質復雜（如富含干擾元素的礦物），需加收前處理費用。

按儀器類型與分析精度收費：使用常規(guī)儀器（如 IRMS）檢測費用較低；采用高精度或大型儀器（如MC-ICP-MS、SIMS），因設備維護成本高，費用相應增加。

加急費用：常規(guī)檢測周期（如 2-4 周）按基礎費用收費；加急服務（如 1 周內出結果）需加收一定比例費用。

附加費用：包括樣品破碎與挑選費（針對天然礦物樣品）、數(shù)據(jù)深度解讀（如同位素數(shù)據(jù)的地質意義分析）、特殊報告（如英文報告、原始數(shù)據(jù)圖譜）等增值服務費用。