金屬平均晶粒度檢測(cè)-襄陽(yáng)公主廣場(chǎng)舞優(yōu)酷自頻道-2018夜夜干天天天爽メイリン モデルコレクション メ

簡(jiǎn)要描述：晶粒度表示晶粒大小的尺度。晶粒度的測(cè)定在一定程度上反映出金屬制品的機(jī)械性能。晶粒度的影響，實(shí)質(zhì)的晶界面積大小的影響。晶粒越細(xì)小則晶界面積越大。...

檢測(cè)項(xiàng)目

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測(cè)試目的

測(cè)量金屬平均晶粒度級(jí)別，適用于平面晶粒度的測(cè)量且只測(cè)量晶粒度單峰分布試樣的平均晶粒度

檢測(cè)范圍

金屬及合金、陶瓷等具有晶體結(jié)構(gòu)的固體

項(xiàng)目介紹

晶粒度表示晶粒大小的尺度。晶粒度的測(cè)定在一定程度上反映出金屬制品的機(jī)械性能。晶粒度的影響，實(shí)質(zhì)的晶界面積大小的影響。晶粒越細(xì)小則晶界面積越大。對(duì)于金屬的常溫力學(xué)性能來(lái)說(shuō)，一般是晶粒越細(xì)小，則強(qiáng)度和硬度越高，同時(shí)塑性和韌性也越好;但單晶體強(qiáng)度不遵循上述規(guī)律，單晶體的強(qiáng)度很強(qiáng)，并且在高溫時(shí)候仍能保持很強(qiáng)強(qiáng)度。因此，工業(yè)上常采用細(xì)化晶粒的方法來(lái)改善金屬制品的機(jī)械性能。

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試驗(yàn)方法

1、比較法

比較法是通過(guò)與標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖對(duì)比來(lái)評(píng)定平均晶粒度。適用于評(píng)定具有等軸晶粒的再結(jié)晶材料。

2、面積法

面積法是通過(guò)計(jì)數(shù)給定面積網(wǎng)格內(nèi)的晶粒數(shù)N來(lái)測(cè)定晶粒度。將已知面積(通常取5000mm2)的圓形或矩形測(cè)量網(wǎng)格置于晶粒圖像上，選用合適的放大倍數(shù)M，然后計(jì)算完全落在測(cè)量網(wǎng)格內(nèi)的晶粒數(shù)N內(nèi)和被網(wǎng)格所切割的晶粒數(shù)N交

3、截點(diǎn)法

截點(diǎn)法是通過(guò)計(jì)數(shù)給定長(zhǎng)度的測(cè)量線段(或網(wǎng)格)與晶粒邊界相交截?cái)?shù)琰測(cè)定晶粒度。截點(diǎn)法比面積法簡(jiǎn)便，建議使用手動(dòng)計(jì)數(shù)器，以避免計(jì)數(shù)時(shí)常規(guī)的錯(cuò)誤和消除出現(xiàn)高于或者低于預(yù)期計(jì)數(shù)時(shí)可能產(chǎn)生的偏差。截點(diǎn)法一般應(yīng)使截點(diǎn)數(shù)高于50個(gè)，以得到準(zhǔn)確可靠的結(jié)果。在對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生爭(zhēng)議時(shí)，應(yīng)以截點(diǎn)法作為仲裁的方法。

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 6394-2017 金屬平均晶粒度測(cè)定法

ASTM E112-2013 平均晶粒度測(cè)定的標(biāo)準(zhǔn)方法

YS/T 347-2004 銅及銅合金 平均晶粒度測(cè)定方法