非 接 觸 式 光 學(xué) 輪 廓 儀 "NanoScan-01"可用于測(cè)量鍍膜 和未鍍膜光學(xué)器件以及其他拋光件表面粗糙度參數(shù)，提供具有 埃級(jí)重復(fù)性精度的測(cè)量。

非接 觸 式 光 學(xué) 輪 廓 儀 - 微 型 干 涉 儀 “NanoScan-01”是根據(jù)Linnik的方案制作的.通過使用Linnik配置，該設(shè)備提供了比 較大視場(chǎng)更好的橫向分辨率，并具有更大 的工作距離和表面測(cè)量保真度。NanoScan-01光學(xué)表面粗糙度測(cè)量?jī)x利 用動(dòng)態(tài)干涉技術(shù)，結(jié)合相移數(shù)據(jù)采集分析 和高速光學(xué)傳感器。內(nèi)配置特殊軟件，可提供廣泛的2D和 3D分析選項(xiàng)，數(shù)據(jù)過濾，掩蔽和導(dǎo)入/導(dǎo) 出功能。 NanoScan-01可以通過安裝在機(jī)器人手臂上輕松地定位在大型部件上，從而可以 任意測(cè)量站內(nèi)大型產(chǎn)品和拋光設(shè)備上任何 地方的表面參數(shù)。