高溫存儲(chǔ)/運(yùn)行試驗(yàn)

1.試驗(yàn)?zāi)康模候?yàn)證產(chǎn)品在高溫環(huán)境運(yùn)輸，儲(chǔ)存和使用的條件下的功能可靠性

2.試驗(yàn)機(jī)理：高溫環(huán)境會(huì)產(chǎn)生熱效應(yīng)，使部件發(fā)生軟化、膨脹蒸發(fā)、氣化、龜裂、溶融及老化等現(xiàn)象，而對(duì)應(yīng)的汽車(chē)將會(huì)出現(xiàn)機(jī)械故障、潤(rùn)滑密封失效、電路系統(tǒng)絕緣不良、機(jī)械的應(yīng)力增加及強(qiáng)度減弱等故障。

3.技術(shù)指標(biāo)：溫度，時(shí)間，溫升速率

4.試驗(yàn)注意項(xiàng)：

   產(chǎn)品或其元器件的高耐受溫度極限

   各試件溫度差不能大于5℃(即受熱均勻，與箱壁距離少5cm）

    區(qū)分散熱樣件與非散熱樣件
    被試產(chǎn)品的迎風(fēng)面（樣品擺放朝向與風(fēng)向的位置）

    一般不允許在測(cè)試過(guò)程中把樣件拿出試驗(yàn)箱外進(jìn)行功能檢測(cè)。功能檢測(cè)應(yīng)讓樣品保持在試驗(yàn)箱里
 低溫存儲(chǔ)/運(yùn)行試驗(yàn)

1.試驗(yàn)?zāi)康模候?yàn)證產(chǎn)品在低溫環(huán)境運(yùn)輸，儲(chǔ)存和使用的條件下的功能可靠性

2.試驗(yàn)機(jī)理：低溫環(huán)境會(huì)產(chǎn)生凝聚效應(yīng)，使部件發(fā)生脆化、龜裂、等現(xiàn)象，而將會(huì)出現(xiàn)機(jī)械故障、潤(rùn)滑密封失效、電路系統(tǒng)絕緣不良、機(jī)械的應(yīng)力增加及強(qiáng)度減弱等故障。

3.技術(shù)指標(biāo)：溫度，時(shí)間，溫升速率

4.試驗(yàn)注意項(xiàng)：

  產(chǎn)品或其元器件的低耐受溫度極限

  區(qū)分散熱樣件與非散熱樣件

  從低溫箱取出由于溫度突變會(huì)產(chǎn)生冷凝露，一般把溫度箱溫度緩慢恢復(fù)至室溫再取出樣品，少一個(gè)小時(shí)，不超過(guò)兩個(gè)小時(shí)   

  一般不允許在測(cè)試過(guò)程中把樣件拿出試驗(yàn)箱外進(jìn)行功能檢測(cè)。功能檢測(cè)應(yīng)讓樣品保持在試驗(yàn)箱里    

 溫度沖擊試驗(yàn)

又稱(chēng) 熱沖擊試驗(yàn)、（高低溫）冷熱沖擊試驗(yàn)。有別于 快速溫變?cè)囼?yàn)

1.試驗(yàn)?zāi)康模候?yàn)證產(chǎn)品在快速溫度變化環(huán)境下的可靠性（環(huán)境應(yīng)力篩選）

2.試驗(yàn)機(jī)理：

        通電后設(shè)備中會(huì)產(chǎn)生高的溫度梯度，由于溫度變化，元器件會(huì)經(jīng)受應(yīng)力，  

        例如，在大功率的電阻器旁邊，熱輻射會(huì)引起鄰近元器件表面溫度升高，

        而其他部分仍然是冷的。

        當(dāng)冷卻系統(tǒng)通電時(shí)，人工冷卻的元器件會(huì)經(jīng)受快速的溫度變化。

3.技術(shù)指標(biāo)：高低溫度，暴露持續(xù)時(shí)間，轉(zhuǎn)換時(shí)間/變化速率，循環(huán)數(shù)

4.試驗(yàn)注意項(xiàng)：

   產(chǎn)品或其元器件的低/高耐受溫度極限

   各試件受熱均勻性

   試件屬于自身發(fā)熱型的TS試驗(yàn)方法      

   一般從低溫段開(kāi)始試驗(yàn)。