SC2010半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)
1.1 系統(tǒng)概述
SC2010半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)是一款非常具有代表性的新型半導(dǎo)體晶體管參數(shù)測試圖示系統(tǒng)，是美國STI5000系列測試機(jī)的國產(chǎn)替代機(jī)型，本系統(tǒng)可自動生成功率器件的 I-V曲線，也可根據(jù)客戶的實際需求設(shè)置功能測試，直接讀取數(shù)顯結(jié)果。系統(tǒng)在失效分析， IQC 來料檢驗及高校實驗室等部門有廣泛的應(yīng) 用。系統(tǒng)生成的曲線都使用 ATE 系統(tǒng)逐點(diǎn)建立，保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確可靠。系統(tǒng)典型的測試時間是 6to 20ms,通常上百 個數(shù)據(jù)點(diǎn)曲線只需要幾秒鐘時間便可以展現(xiàn)出來，數(shù)據(jù)捕獲的曲線可導(dǎo)入 EXCEL 等格式進(jìn)一步分析研究，是一款高效多功能的半導(dǎo)體測試設(shè)備。
本系統(tǒng)使用方便，只需要通過 USB 或者 RS232 與電腦連接，通過電腦中友好的人機(jī)界面操作，即可完成測試。并可以實現(xiàn)測試數(shù)據(jù)以 EXCEL 和 WORD 的格式保存。系統(tǒng)提供過電保護(hù)功能，門極過電保護(hù)適配器提供了廣泛的診斷測 試。這些自我測試診斷被編成測試代碼,以提供自我測試夾具,在任何時間都可以檢測。對診斷設(shè)備狀態(tài)和測試結(jié)果提供了可靠地保證。
1.2 系統(tǒng)指標(biāo)
測 試 電 壓： ≤2KV
測 試 電 流： ≤100A
電壓分辨率： 1mV
電流分辨率： 0.1nA
測 試 精 度： 0.2%+2LSB
測 試速 度： 約0.5ms/參數(shù)
測 試種 類： 17大類26分類的分立器件
測 試參 數(shù)： 90%以上靜態(tài)參數(shù)
曲 線功 能： 非常豐富,并支持曲線簇
測 試方 式： 程控脈沖式
脈 沖寬 度： 300us至5ms
數(shù) 據(jù)存 儲： 原始數(shù)據(jù)自動存儲
規(guī) 格尺 寸： 570*450*280mm
1.3 測試能力
SC2010測試系統(tǒng)是專為測試半導(dǎo)體分立器件而研發(fā)設(shè)計。它具有十分豐富的編程軟件和強(qiáng)大的測試能力，能夠真實 準(zhǔn)確測試以下類型的半導(dǎo)體器件以及相關(guān)器件組成的組合器件、器件陣列：
序號 | 測試器件類別 | 測試參數(shù)列表 |
1 | 二極管 DIODE | IR；BVR ；VF |
2 | 晶體管 TRANSISTOR | ICBO ； ICEO ； ICER ； ICES ； ICEV ； IEBO ；BVCEO ；BVCBO ；BVEBO； HFE；VCESAT；VBESAT；VBE(VBEON)；RE；VF |
3 | J 型場效應(yīng)管 J-FET | IGSS；IDOFF；IDGO；BVDGO；BVGSS；VDSON，VGSON；IDSS；GFS；VGSOFF |
4 | 場效應(yīng)管 MOS-FET | IDSS ；IDSV；IGSSF； IGSSR ；VGSF ；VGSR ；BVDSS ；VGSTH ；VDSON、 VF(VSD)IDON；VGSON；RDSON；GFS |
5 | 雙向可控硅 TRIAC | VD+；VD-；VT+ ； VT-；IGT；VGT ；IL+；IL-；IH+；IH- |
6 | 可控硅 SCR | IDRM；IRRM；IGKO；VDRM；VRRM；BVGKO；VTM；IGT；VGT；IL；IH |
7 | 絕緣柵雙極型晶體管 IGBT | ICES；IGESF；IGESR；BVCES；VGETH；VCESAT；ICON；VGEON；VF；GFS |
8 | 硅觸發(fā)可控硅 STS | IH+； IH-；VSW+ ； VSW-；VPK+ ； VPK-；VGSW+；VGSW- |
9 | 達(dá)林頓陣列 DARLINTON | ICBO ； ICEO ； ICER ； ICES ； ICEX ； IEBO ； BVCEO ； BVCER ； BVCEE ； BVCES ；BVCBO；BVEBO；hFE ；VCESAT； VBESAT；VBEON |
10 | 光電耦合器 OPTO-COUPLER | ICOFF 、 ICBO ； IR ； BVCEO ； BVECO ； BVCBO ； BVEBO ； ； CTR ； HFE ； VCESAT； VSAT；VF(Opto-Diode) |
11 | 繼電器 RELAY | RCOIL；VOPER；VREL；RCONT；OPTIME； RELTIME |
12 | 穩(wěn)壓、齊納二極管 ZENER | IR；BVZ；VF；ZZ |
13 | 三端穩(wěn)壓器 REGULATOR | Vout；Iin； |
14 | 光電開關(guān) OPTO-SWITCH | ICOFF；VD；IGT；VON；ION ；IOFF |
15 | 光電邏輯 OPTO-LOGIC | IR；VF；VOH；VOL；IFON； IFOFF |
16 | 金屬氧化物壓變電阻 MOV | ID+ ID-；VN+； VN-；VC+ ；VCLMP-；VVLMP+ ； |
17 | 固態(tài)過壓保護(hù)器 SSOVP | ID+ ID- ；VCLAMP+, VCLAMP- ；VT+ 、VT- ； IH+ 、 IH- ； ； IBO+ IBO-； VBO+ VBO-；VZ+ VZ- |
18 | 壓變電阻 VARISTOR | ID+； ID-；VC+ ；VC- |
19 | 雙向觸發(fā)二極管 DIAC | VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-, |
1.4 曲線列舉（部分）
MOSFET曲線
ID vs.VDS at range of VGS
ID vs.VGS at fixed VDS
IS vs.VSD
RDS vs.VGS at fixed ID
RDSvs. ID at several VGS
IDSS vs. VDS
TRANSISTOR曲線
HFE vs. IC
BVCE（O,S,R,V）vs. IC
BVEBO vs. IE
BVCBO vs. IC
VCE（SAT）vs. IC
VBE（SAT）vs. IC
VBE（ON）vs. IC （use VBE test）
VCE（SAT）vs. IBat a range of ICVF vs. IF
1.5系統(tǒng)特點(diǎn)
測試范圍廣（19 大類，27 分類）
擴(kuò)展性強(qiáng)，支持電壓電流階梯式升級至 2000V,1250A
被測器件接觸不良時系統(tǒng)自動停止，保證被測器件不受損壞
動態(tài)跨導(dǎo)測試（主流的直流法測得，其結(jié)果與實際值偏差很大）
系統(tǒng)故障在線判斷定位設(shè)計，便于應(yīng)急處理排障
二極管極性自動判別功能，無需人工操作
IV 曲線顯示 / 局部放大
程序保護(hù)大電流 / 電壓以防損壞
品種繁多的曲線
可編程延遲時間可減少器件發(fā)熱
曲線和數(shù)據(jù)直接導(dǎo)入到 EXCEL
1.6 應(yīng)用領(lǐng)域
分立器件設(shè)計廠家、封裝廠、電子產(chǎn)品廠家來料檢驗、實驗室選型配對、設(shè)備維修分析、高校器件教學(xué)、研究所參數(shù)選型等等。
分立器件測試儀 , 半導(dǎo)體測試儀 , 靜態(tài)參數(shù)測試儀 , 晶體管圖示儀 , 晶體管直流參數(shù)測試儀
半導(dǎo)體分立器件測試系統(tǒng)，美國STI5000系列測試機(jī)維修
西安中昊芯測科技有限公司，是一家專業(yè)從事半導(dǎo)體電性能測試設(shè)備開發(fā)制造、電參數(shù)測試方案搭建、綜合測試分析服務(wù)于一體的技術(shù)服務(wù)型企業(yè)，核心業(yè)務(wù)為半導(dǎo)體分立器件電學(xué)參數(shù)測試設(shè)備的開發(fā)制造，產(chǎn)品主要涉及分立器件測試儀、MOS管測試儀、IGBT測試儀、晶閘管測試儀、光耦測試儀、繼電器測試儀、功率循環(huán)、環(huán)境老化、雪崩浪涌等測試系統(tǒng)，產(chǎn)品具有高速智能、高精度、寬量程等技術(shù)優(yōu)勢，已經(jīng)廣泛應(yīng)用于高校、科院院所、家電、新能源汽車、軌道交通、半導(dǎo)體器件設(shè)計制...