電子元器件體積電阻檢測(cè)

電子元器件的體積電阻檢測(cè)是評(píng)估其絕緣性能的重要手段。體積電阻是指在試樣兩相對(duì)表面上放置的兩電極間所加直流電壓與流過這兩個(gè)電極之間的穩(wěn)態(tài)電流之商，不包括沿試樣表面的電流，在兩電極上可能形成的極化忽略不計(jì)。體積電阻率是在絕緣材料里面的直流電場(chǎng)強(qiáng)度和穩(wěn)態(tài)電流密度之商，即單位體積內(nèi)的體積電阻。 

在實(shí)際檢測(cè)中，通常采用圖1所示的測(cè)試夾具電極配置，將電壓源Vs施加到上電極，指定流經(jīng)測(cè)試樣品的大電流為Im，隨后體積電阻率Rv用公式Rv=Vs/Im計(jì)算。從測(cè)試樣品流向保護(hù)電極的大電流和從上電極流向保護(hù)電極的表面電流都屬于泄露電流；然而這些電流都會(huì)進(jìn)入Vs的低側(cè)，不會(huì)對(duì)用于計(jì)算Rv的電流表電流(Im) 的大小造成影響。 

電子元器件介電強(qiáng)度檢測(cè)

介電強(qiáng)度是指在不產(chǎn)生介電擊穿能力的情況下，將樣品放置在電極之間，通過一系列過程提高施加的電壓，直到介電擊穿，以此測(cè)量介電強(qiáng)度。雖然結(jié)果以kV/mm為單位，但并不意味著與樣品的厚度無(wú)關(guān)。因此，只有在樣品厚度相同的情況下獲取各種材料的數(shù)據(jù)才能進(jìn)行比較，不同厚度的穿透電量肯定是不一樣的。 

在進(jìn)行介電強(qiáng)度檢測(cè)時(shí)，需要使用專門的測(cè)試儀器，如耐壓測(cè)試儀等。測(cè)試前需要做好準(zhǔn)備工作，包括檢查儀器、選擇合適的電極、準(zhǔn)備樣品等。在測(cè)試過程中，需要設(shè)置好測(cè)試參數(shù)，如測(cè)試時(shí)間、漏電流截?cái)嘀怠?bào)警值、電壓等，并按照規(guī)定的操作流程進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試結(jié)束后，需要記錄測(cè)試結(jié)果，并進(jìn)行數(shù)據(jù)分析和處理。