隨著現(xiàn)在電子產(chǎn)品的日益增多，人們對產(chǎn)品的品質(zhì)要求越來越高，尤其是對于一些高精密的電子產(chǎn)品，比如說手機(jī)等，產(chǎn)品從生產(chǎn)完成到到達(dá)客戶手中，這個(gè)過程中會遇到各種不同的振動環(huán)境。而振動測試的目的是在于試驗(yàn)中模擬一連串的振動環(huán)境，從而檢驗(yàn)產(chǎn)品是否耐得住各種機(jī)械環(huán)境的破壞。因而發(fā)現(xiàn)問題，提升產(chǎn)品品質(zhì)安全。

可靠性振動試驗(yàn)是評定元器件、零部件及整機(jī)在預(yù)期的運(yùn)輸及使用環(huán)境中的抵抗能力，根據(jù)產(chǎn)品所承受的環(huán)境不同。

一、振動試驗(yàn)分以下種類：

（1）正弦定頻試驗(yàn)

在選定的頻率上（可以是共振頻率，特定頻率，或危險(xiǎn)頻率）按規(guī)定的量值進(jìn)行正弦振動試驗(yàn)，并達(dá)到規(guī)定要求的時(shí)間。

（2）正弦掃頻試驗(yàn)

在規(guī)定的頻率范圍內(nèi)，按規(guī)定的量值以一定的掃描速率由低頻到高頻，再由高頻到低頻作為一次掃頻，直到達(dá)到規(guī)定的總次數(shù)為止。

掃頻試驗(yàn)分線性掃頻試驗(yàn)和指數(shù)掃頻試驗(yàn)：

線性掃頻速度由掃頻速率（Hz/s）或單次掃頻時(shí)間決定；

指數(shù)掃頻速度的掃頻速率一般為每分鐘一個(gè)倍頻乘.

（3）窄帶隨機(jī)掃描試驗(yàn)

在規(guī)定的頻率范圍內(nèi)，用某一中心頻率上某一帶寬的窄帶隨機(jī)信號作由低頻到高頻，再由高頻到低頻的掃描，并達(dá)到規(guī)定要求的時(shí)間。

（4）寬帶隨機(jī)振動試驗(yàn)

在規(guī)定的頻率范圍內(nèi)，按規(guī)定的譜形狀和總均方根值（GRMS）作寬帶隨機(jī)振動，并達(dá)到規(guī)定要求的時(shí)間。

（5）寬帶隨機(jī)疊加正弦振動試驗(yàn)

在規(guī)定的頻率范圍內(nèi)，在隨機(jī)振動的基礎(chǔ)上疊加有若干個(gè)頻率的正弦振動，按規(guī)定量級規(guī)定時(shí)間完成試驗(yàn)。

（6）寬帶隨機(jī)疊加窄帶隨機(jī)掃描振動試驗(yàn)

在規(guī)定的頻率范圍內(nèi)，在寬帶隨機(jī)振動的基礎(chǔ)上疊加有若干窄帶隨機(jī)峰值，按規(guī)定量級規(guī)定時(shí)間完成試驗(yàn)。

二、振動試驗(yàn)參考標(biāo)準(zhǔn)：

GJB 150.25-86, GB/T 4857.23-2003 ,GB/T 4857.10-2005

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