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雙系統(tǒng)控制模式：電腦控制+觸摸屏控制
數(shù)據(jù)處理：測(cè)試數(shù)據(jù)可顯示測(cè)試點(diǎn)的 X, Y 坐標(biāo)，電流電壓范圍，電阻，電阻率等。
圖譜功能畫(huà)面：制圖軟件可根據(jù)樣品形狀，測(cè)量點(diǎn)數(shù)量和位置，測(cè)量點(diǎn)的方阻值繪出2D, 3D MAP圖.
控制系統(tǒng)：機(jī)器是雙系統(tǒng)控制模式，可電腦控制，也可以觸摸屏控制
有伺服電機(jī)，高精度走位，探頭壓力傳感器，設(shè)有多重壓力感應(yīng)保護(hù)機(jī)制。測(cè)量區(qū)域封閉無(wú)塵空間，減少污染。
設(shè)備基本參數(shù)
1．方阻測(cè)量范圍：1x10E-6ohm/sq~5x10E6ohm/sq
2．四探針探頭測(cè)量金屬類型：鋁 / 鈦 / 鎳釩 / 金 / 銅 等金屬
3．四探針探頭測(cè)量金屬厚度：100A～10μm
4．四探針系統(tǒng)電流量程：1μA , 10μA , 100μA , 1mA , 10mA , 50mA , 500mA 七檔
5．四探針標(biāo)準(zhǔn)晶圓方阻重復(fù)性：1，≤±0.1%（同點(diǎn)靜態(tài)測(cè)量）2，≤±0.2% （動(dòng)態(tài)多點(diǎn)測(cè)量）
6．四探針標(biāo)準(zhǔn)晶圓測(cè)量精度：≤±1%（典型晶圓）
7．量測(cè)區(qū)域：以探針頭的中心到晶圓的邊緣距離3mm
8．測(cè)試圖形：1，極地圖形（在對(duì)位晶圓的notch) 2，矩形圖形（無(wú)效邊緣排除以外進(jìn)行選擇） 3，直線掃描（可以是直徑，半徑或沿直徑的點(diǎn)到點(diǎn)，Zui小距離0.1mm) 4，用戶自定義（使用模板）
9．測(cè)量圖形表示：可以為輪廓圖，3D圖，water上顯示的數(shù)據(jù)圖數(shù)據(jù)表示
10．探針自清潔功能：陶瓷片清潔
11．所有設(shè)備測(cè)量的數(shù)據(jù)文件可以被導(dǎo)入到Excel，Word文檔，工作站等，數(shù)據(jù)圖形可以合并
四探針 , 電阻測(cè)量 , 方阻測(cè)量 , 晶圓電阻測(cè)量
晶圓電阻測(cè)量?jī)x-葫蘆娃視頻在線觀看網(wǎng)站_美女內(nèi)射毛片在線看3Dメイリン モデルコレクション メ，芯片焊線機(jī)，貼片機(jī)
一般項(xiàng)目：電子專用設(shè)備制造；電子專用設(shè)備銷售；半導(dǎo)體器件專用設(shè)備制造；半導(dǎo)體器件專用設(shè)備銷售；電子專用材料制造；電子專用材料銷售；電子測(cè)量?jī)x器銷售；專用設(shè)備修理；機(jī)械設(shè)備租賃；機(jī)械零件、零部件加工；機(jī)械零件、零部件銷售；其他電子器件制造；技術(shù)服務(wù)、技術(shù)開(kāi)發(fā)、技術(shù)咨詢、技術(shù)交流、技術(shù)轉(zhuǎn)讓、技術(shù)推廣；技術(shù)進(jìn)出口；進(jìn)出口代理（除依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目外，憑營(yíng)業(yè)執(zhí)照依法
公司主要從事半導(dǎo)體芯片晶圓測(cè)試設(shè)備--四探針電阻測(cè)量?jī)x，高溫和低溫電阻測(cè)試儀等設(shè)備的研發(fā)和制造，銷售及技術(shù)服務(wù) 與瑞菲光電公司合作，從事晶圓翹曲應(yīng)力測(cè)量?jī)x的銷售和應(yīng)用服務(wù)；在芯片封裝領(lǐng)域，有代理銷售固晶貼裝設(shè)備，鍵合焊線設(shè)備，以及線弧 AOI-3D三維檢測(cè)設(shè)備和推拉力測(cè)試設(shè)備 設(shè)計(jì)定制工作臺(tái)，精密測(cè)試探頭及其模塊等。公司有經(jīng)驗(yàn)豐富的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，在相關(guān)領(lǐng)域國(guó)際公司有多年工作經(jīng)驗(yàn)，可以為客戶提供及時(shí)有效的技術(shù)解決方案...