電子電氣產(chǎn)品中有害物質(zhì)檢測(cè)RoHS2.0樣品拆分通用要求

General Disassembly Re for Testing HazardousSubstances in Electrical and Electronic Products

在電子電氣產(chǎn)品有害物質(zhì)的檢測(cè)中，樣品拆分過(guò)程對(duì)于檢測(cè)結(jié)果具有直接的影響。本標(biāo)準(zhǔn)參考?xì)W盟關(guān)于均質(zhì)材料的定義對(duì)樣品進(jìn)行拆分，將樣品拆分成終提交檢測(cè)的單元，然后再進(jìn)行檢測(cè)。對(duì)于用機(jī)械手段難以拆分的非均質(zhì)材料，按照一定的條件，如質(zhì)量、體積等符合本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的，CS995型紅外碳硫分析儀，可以直接提交檢測(cè)，不需進(jìn)一步拆分。本標(biāo)準(zhǔn)用舉例和圖示的方法對(duì)拆分的原則進(jìn)行說(shuō)明

材質(zhì)必須均勻。你的待測(cè)元素不均勻的話，多的地方和少的地方差別會(huì)較大。因?yàn)閄RF光譜儀入射光線一般較窄，直徑1-5微米，也就是說(shuō)照射到樣品的區(qū)域會(huì)很小，所以不均勻樣品檢測(cè)會(huì)不準(zhǔn)確，當(dāng)然主要也是看不均勻程度。

你的交錯(cuò)規(guī)律排列指的什么？如果是一層高分子，一層無(wú)機(jī)物，在一層高分子一層無(wú)機(jī)物，并且每層的厚度一定（比如層高分子都是10微米厚）。這樣的可以在一定程度上看成是均勻的，但是用X熒光光譜儀測(cè)量還是有問(wèn)題，因?yàn)閄熒光透過(guò)不同物質(zhì)有厚（某元素的X熒光透射不出來(lái)的厚度，原因是自吸收）的問(wèn)題。

原子失去一個(gè)電子成為離子時(shí)所需要的能量稱為一級(jí)電離電位。離子中的外層電子也能被激發(fā)，其所需的能量即為相應(yīng)離子的激發(fā)電位。處于激發(fā)態(tài)的原子是十分不穩(wěn)定的，在極短的時(shí)間內(nèi)便躍遷至基態(tài)或其它較低的能級(jí)上。當(dāng)原子從較高能級(jí)躍遷到基態(tài)或其它較低的能級(jí)的過(guò)程中，將釋放出多余的能量，這種能量是以一定波長(zhǎng)的電磁波的形式輻射出去的。每一條所發(fā)射的譜線的波長(zhǎng)，取決于躍遷前后兩個(gè)能級(jí)之差。

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