按鍵壽命測(cè)試檢驗(yàn)產(chǎn)品的使用壽命及長(zhǎng)期按鍵對(duì)周圍器件的影響。按鍵壽命測(cè)試使用手機(jī)、MP3、電腦、電子詞典按鍵、搖控器按鍵、硅橡膠按鍵、硅膠制品等產(chǎn)品，測(cè)試能力主要范圍是適用于檢測(cè)按鍵開關(guān)、輕觸開關(guān)、薄膜開關(guān)等各類按鍵進(jìn)行壽命測(cè)試。

1.測(cè)試目的：

制定規(guī)范的操作指引，提供試驗(yàn)人員進(jìn)行按鍵壽命試驗(yàn)；

模擬用戶日常使用電話的情形，試驗(yàn)在不同部位的按鍵壽命情況。

2.范測(cè)試圍：

適用于所有電話機(jī)成品（除客戶特殊要求外）以及物料。

3.參考文件：

W Reliability Test Items for NorthAmerican Vtech and AT&T Brand Products.

W Reliability Test Itemsfor

Vtech Europe Products.

4、定義：

無。

5.貴任

試驗(yàn)申請(qǐng)者提供試驗(yàn)功能正常的樣品，并填寫試驗(yàn)申請(qǐng)單；

實(shí)驗(yàn)室負(fù)責(zé)人負(fù)責(zé)完成所有的可靠性測(cè)試，并以E-Mail形式將試驗(yàn)結(jié)果通知Project Leader和申請(qǐng)者，試驗(yàn)完畢后發(fā)出的正式的報(bào)告，并將樣品退還申請(qǐng)人；

對(duì)于Failure的項(xiàng)目，實(shí)驗(yàn)室負(fù)責(zé)人要在當(dāng)天內(nèi)通知相關(guān)負(fù)責(zé)人員，并協(xié)助分析Fail的原因；

相關(guān)部門在必要時(shí)提供改善行動(dòng)，并且送改善后的Sample到實(shí)驗(yàn)室，重做測(cè)試，以確認(rèn)改善行動(dòng)是否有效。

6.程序

沖頭的調(diào)校及安裝（按鍵壽命測(cè)試）；

逐一調(diào)校沖頭上的彈簧行程，用彈力計(jì)測(cè)量，使之符合按壓距離3.0#0.2mm時(shí)壓力為450~600g；將調(diào)校好的沖頭正確地安裝在沖壓機(jī)上；做按鍵壽命試驗(yàn)，VTECH標(biāo)準(zhǔn)要求如下：

機(jī)械壽命次數(shù)

試驗(yàn)過程中需每一萬次停下來檢查一次，如有問題需詳細(xì)記錄。

7.試驗(yàn)要求

試驗(yàn)中和試驗(yàn)后按鍵功能正常；

試驗(yàn)中和試驗(yàn)后按鍵有任何的機(jī)械損壞都是不可以接受的。

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