全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件,可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量配合用戶友好的軟件界面,EDX8000TPlus鍍層測厚儀,可以輕松地進(jìn)行日常測量。材料的鍍層厚度是一個重要的生產(chǎn)工藝參數(shù),其選用的材質(zhì)和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、裝飾效果、導(dǎo)電性、產(chǎn)品的可靠性和使用壽命,因此,鍍層厚度的控制在產(chǎn)品質(zhì)量、過程控制、成本控制中都發(fā)揮著重要作用。
Simply The Best
>微光斑X 射線聚焦光學(xué)器件
通過將高亮度一次 X 射線照射到0.02mm的區(qū)域,實現(xiàn)高精度測量。
>硅漂移探測器 (SDD) 作為檢測系統(tǒng)
高計數(shù)率硅漂移檢測器可實現(xiàn)高精度測量。
>高分辨率樣品觀測系統(tǒng)
的點位測量功能有助于提高測量精度。
>鋼上鋅等防腐涂層
>電路板和柔性PCB上的涂層
>插頭和電觸點的接觸面
>電鍍液分析
>鍍層,如金基上的銠材料分析
>電鍍液分析
>分析電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能涂層
>分析硬質(zhì)材料涂層,例如 CrN、TiN 或 TiCN
>可拓展增加RoHS有害元素分析功能
光譜儀,合金分析儀,礦石分析儀
研發(fā)、設(shè)計、制造、銷售:科學(xué)儀器、高低壓電器設(shè)備;研發(fā):計算機軟件;從事上述商品及技術(shù)進(jìn)出口業(yè)務(wù)。(依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項目,經(jīng)相關(guān)部門批準(zhǔn)后方可開展經(jīng)營活動)
蘇州英飛思科學(xué)儀器有限公司,英文名字:EfficiencyScientificInstrumentCo.,Ltd.公司logo和英文縮寫為ESI。英飛思ESI坐落于美麗而現(xiàn)代的蘇州工業(yè)園。公司專注于X射線熒光光譜分析儀XRF及其配屬設(shè)備的研發(fā),生產(chǎn)和應(yīng)用?;诙嗄甑募夹g(shù)積累和沉淀,英飛思擁有整套XRF光譜儀的原生態(tài)研發(fā)和制造技術(shù),包括50瓦,100瓦高壓發(fā)生裝置,50瓦光管的封裝工藝,數(shù)字多道分析(DPP),控制電路板的設(shè)計和研發(fā),基本...