背壓法適用于那些行業(yè)？背壓法主要用于檢漏各種電子元器件。采用背壓法進(jìn)行泄漏檢測(cè)時(shí)，首先將被檢測(cè)產(chǎn)品放入高壓氦氣室中，浸泡數(shù)小時(shí)或數(shù)天。如果被檢測(cè)產(chǎn)品表面有漏孔，氦將通過(guò)漏孔壓入被檢測(cè)產(chǎn)品的內(nèi)部密封腔，從而增加內(nèi)部密封腔內(nèi)的氦分壓。然后取出被檢測(cè)產(chǎn)品，將表面殘留的氦氣吹出，然后將被檢測(cè)產(chǎn)品放入與檢漏儀連接的真空容器中。被檢測(cè)產(chǎn)品密封腔內(nèi)的氦氣將通過(guò)漏孔泄漏到真空容器，然后進(jìn)入氦質(zhì)譜檢漏儀，以測(cè)量被檢測(cè)產(chǎn)品的總泄漏率。檢漏儀給出的泄漏率值為測(cè)量泄漏率，需要通過(guò)轉(zhuǎn)換公式計(jì)算被檢測(cè)產(chǎn)品的等效標(biāo)準(zhǔn)泄漏率。

背壓法的缺點(diǎn)是大型密封容器不能泄漏，否則由于密封腔體積過(guò)大，加壓時(shí)間過(guò)長(zhǎng)。此外，每個(gè)測(cè)量泄漏率對(duì)應(yīng)兩個(gè)等效標(biāo)準(zhǔn)泄漏率。仔細(xì)檢查后，需要采用其他方法進(jìn)行粗略檢查，以消除大泄漏的可能性。

全密封件基本都是采用背壓法進(jìn)行檢漏，該檢漏方法簡(jiǎn)單可靠。即將TO封裝光器件置于一定壓力的容器中，通入氦氣進(jìn)行壓氦，保壓一定時(shí)間取出器件，轉(zhuǎn)入一個(gè)連接在氦檢儀上真空容器中（檢漏罐）進(jìn)行檢漏，通過(guò)自動(dòng)檢測(cè)判定光器件是否達(dá)到封裝氣密性指標(biāo)要求。

氦質(zhì)譜檢漏儀的優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)：

      1.采用便攜式設(shè)計(jì)

      2.設(shè)備外型美觀小巧

      3.采用液晶觸摸屏設(shè)計(jì)

      4.有通訊接口

      5.可以方便地將檢漏數(shù)據(jù)輸出

氦質(zhì)譜檢漏儀的使用環(huán)境：

     環(huán)境溫度：5～35℃相對(duì)濕度：<80%供電電壓：?jiǎn)蜗嘟涣?20V±10%，50Hzzui大工作電流：10A