電化學(xué)EC-V剖面濃度測試儀可高效、準確的測量半導(dǎo)體材料（結(jié)構(gòu)，層）中的摻雜濃度分布。選用合適的電解液與材料接觸、腐蝕，從而得到材料的摻雜濃度分布。電容值電壓掃描和腐蝕過程由軟件全自動控制。
電化學(xué)ECV剖面濃度測試儀主要用于半導(dǎo)體材料的研究及開發(fā)，其原理是使用電化學(xué)電容-電壓法來測量半導(dǎo)體材料的摻雜濃度分布。電化學(xué)ECV(CV-Profiler,C-V Profiler)也是分析或發(fā)展半導(dǎo)體光-電化學(xué)濕法蝕刻(PECEtching)很好的選擇。CVP21電化學(xué)C-V剖面濃度測量儀適用于評估和控制在半導(dǎo)體生產(chǎn)中的外延過程并且以被使用在多種不同的材料上，例如：硅、鍺、III-V族化合物半導(dǎo)體(如GaN)。
半導(dǎo)體電阻率測試儀，碳化硅方阻測試儀，少子壽命測試儀，晶圓霍爾遷移率測試系統(tǒng)，氮化鎵厚度TTV測試儀
許可項目：第二類醫(yī)療器械生產(chǎn)（依法須經(jīng)批準的項目，經(jīng)相關(guān)部門批準后方可開展經(jīng)營活動，具體經(jīng)營項目以審批結(jié)果為準）一般項目：技術(shù)服務(wù)、技術(shù)開發(fā)、技術(shù)咨詢、技術(shù)交流、技術(shù)轉(zhuǎn)讓、技術(shù)推廣；軟件開發(fā)；人工智能基礎(chǔ)軟件開發(fā)；人工智能應(yīng)用軟件開發(fā)；新材料技術(shù)研發(fā)；機械設(shè)備研發(fā)；計算機系統(tǒng)服務(wù)；信息系統(tǒng)集成服務(wù)；工業(yè)工程設(shè)計服務(wù)；工程和技術(shù)研究和試驗發(fā)展；科技推廣和應(yīng)用服
公司成立于2021年，是一家注冊在蘇州、具備世界領(lǐng)先技術(shù)的非接觸式半導(dǎo)體檢測分析設(shè)備制造商。公司集研發(fā)、設(shè)計、制造、銷售于一體，主要攻克國外壟斷技術(shù)，替代進口產(chǎn)品，使半導(dǎo)體材料測試設(shè)備國產(chǎn)化。主要產(chǎn)品：非接觸式無損方塊電阻測試儀、晶圓方阻測試儀，方阻測試儀，硅片電阻率測試儀，渦流法高低電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，渦流法電阻率探頭和PN探頭測試儀，遷移率（霍爾）測試儀，少子壽命測試儀，晶圓、硅片厚度測試儀，表面光電壓儀JPV\SPV、...