測量平板平面度的檢驗:測量平臺的平面度的檢驗,和以前的標(biāo)準(zhǔn)有了不一樣的概念,使用中不再一味的追求測量平臺的接觸點,一般的使用可以把側(cè)重點放在平面度的檢驗上即可,由于現(xiàn)在的工件和測量平臺的規(guī)格不斷的增大,所以工件對測量平臺的要求也在發(fā)生變化,測量平臺的接觸點的多少和測量平臺的加工成本有著很大的關(guān)系,因此,明智的用戶已經(jīng)不再刻意的要求測量平臺接觸點了。
測量平板的技術(shù)參數(shù)主要包括:測量平臺的承載、測量平臺的長寬高、測量平板的表面精度、測量平臺的重量、測量平臺的材質(zhì)要求等等。
測量平臺的材質(zhì):可以分為球鐵和灰鐵兩類。球鐵測量平臺的使用比較少,一般使用在規(guī)格較小,精度要求較高的測量平臺
規(guī)格(長×寬)mm
精度等級
1級
2級
3級
平面度公差( um)
200 ×200
10
20
50
300 ×200
12
24
60
300 ×300
12
24
60
300 ×400
12
24
60
400 ×400
12
24
60
400 ×600
14
28
70
500 ×500
14
28
70
500 ×600
14
28
70
500 ×800
16
32
80
600 ×800
16
32
80
600 ×900
16
32
80
1000 ×750
18
36
90
1000 ×1000
20
39
96
1000 ×1200
20
40
100
1000 ×1500
24
48
120
1000 ×2000
26
52
130
1500 ×2000
28
56
140
1500 ×2500
32
64
152
1500 ×3000
70
174
2000 ×3000
74
184
2000 ×4000
88
219
2500 ×3000
79
186
2000 ×4500
237
2000 ×5000
255
2000 ×6000
292
3000 ×6000
308
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