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過電應(yīng)力
電子元件在其參數(shù)指標(biāo)中設(shè)定了使用時(shí)所承載的大應(yīng)力,包括高環(huán)境溫度,大額定功率,大工作電壓、電流、峰值電壓、大輸入、輸出電流/電壓等,如果在使用過程中,所加的電應(yīng)力超過元件的大應(yīng)力,即使是瞬間通過,也會(huì)對(duì)元件造成損傷,一般過電應(yīng)力分為過電壓和過電流兩種,在過電應(yīng)力作用下,電子元件局部形成熱點(diǎn),當(dāng)溫度達(dá)到材料熔點(diǎn)時(shí),會(huì)造成材料熔化,形成開路或者短路,導(dǎo)致元件失效。
7.靜電損傷
靜電失效分為兩種,潛在性失效和突發(fā)性失效,潛在性失效是指靜電的放電能量比較低,僅僅局限于元件內(nèi)部輕微損傷,放電后元件參數(shù)變化不大,但元件的抗過電壓能力已經(jīng)下降,使用壽命縮短,經(jīng)過一段工作時(shí)間后就會(huì)再次出現(xiàn)失效,而突發(fā)性失效是指元件在靜電放電損傷后,突然出現(xiàn)開路、短路或者參數(shù)漂移,這類表現(xiàn)明顯,也比較容易被發(fā)現(xiàn)。
對(duì)于電子材料來講,靜電分為過電壓場(chǎng)和過電流熱,過電壓場(chǎng)指的是高阻抗的靜電放電回路中,絕緣介質(zhì)兩端電極受到高靜電放電電荷而呈現(xiàn)高電壓,有可能使電極之間的電場(chǎng)超過其介質(zhì)臨界擊穿電場(chǎng),使得電極之間介質(zhì)發(fā)生擊穿失效,過電壓場(chǎng)失效多發(fā)于MOS元器件以及雙極性電路和混合電路。過電流熱失效指的是在較低阻抗的放電回路中,由于靜電放電電流過大,使局部區(qū)域溫度溫升超過材料熔點(diǎn)溫度,導(dǎo)致材料發(fā)生局部熔融是元器件失效,過電流熱致失效多發(fā)生在雙極性元件,包括輸入用PN結(jié)保護(hù)的MOS電路,肖特基二極管以及含有雙極性元件的混合電路。
六.失效分析的主要順序
失效分析原則是**行非破壞性分析,后進(jìn)行破壞性分析,先外部分析,后解剖分析,先了解失效的有關(guān)情況,比如說設(shè)計(jì)線路,應(yīng)力條件,失效現(xiàn)象,后分析元器件。
半導(dǎo)體的失效分析 , 樹脂銅離子加速鹽霧試驗(yàn)
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