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顯微形貌像技術(shù)
光學(xué)顯微鏡分析技術(shù)
掃描電子顯微鏡的二次電子像技術(shù)
電壓效應(yīng)的失效定位技術(shù)
6、半導(dǎo)體主要失效機(jī)理分析
電應(yīng)力（EOD）損傷
靜電放電（ESD）損傷
封裝失效
引線鍵合失效
芯片粘接不良
金屬半導(dǎo)體接觸退化
鈉離子沾污失效
氧化層針孔失效
觸控屏失效分析測試 , 銅加速中性鹽霧試驗
國軍標(biāo)測試、gjb150可靠性檢測、檢測環(huán)境可靠性測試、汽車電子產(chǎn)品檢測
汽車零部件電子產(chǎn)品檢測技術(shù)服務(wù)
萬博檢測從事第三方公正檢測、咨詢服務(wù)。公司擁有的檢測技術(shù)團(tuán)隊與經(jīng)驗豐富高素質(zhì)的實驗室管理人員。 萬博檢測已建設(shè)成為一個集環(huán)境可靠性試驗、材料性能測試、電磁兼容（EMC）、安規(guī)測試、化學(xué)分析、理化檢測為一體的大型綜合性檢測服務(wù)機(jī)構(gòu)。服務(wù)能力覆蓋軍用/民用、電子電器、汽車、材料、航空航天、通用設(shè)備、船舶、機(jī)械、醫(yī)療器械、紡織玩具、橡膠塑料、運輸包裝等應(yīng)用領(lǐng)域，現(xiàn)有規(guī)模、測試能力和水平處于行內(nèi)檢測機(jī)構(gòu)的高水平。 ...