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SEM&EDS分析對于NG品，根據(jù)所測接點(diǎn)電阻的結(jié)果，選取B接點(diǎn)接觸電阻值高的2個繼電器，對于2種OK品，每種任選2個繼電器，在不污染觸點(diǎn)及其周圍的前提下，將樣品進(jìn)行拆分后，用SEM&EDS分析拆分后樣品的觸點(diǎn)及周圍異物的元素成分。觸點(diǎn)位置標(biāo)示如圖3所示。所檢3種樣品共6個繼電器的觸點(diǎn)中，NG品的觸點(diǎn)及觸點(diǎn)周圍檢出大量的含碳（C）、氧（O）、硅（Si）等元素的異物，而OK品的觸點(diǎn)表面未檢出異物。典型圖片如圖4、圖5所示。
圖3 觸點(diǎn)位置標(biāo)識（D指觸點(diǎn)C反面）
圖4 NG樣品觸點(diǎn)周圍異物SEM&EDS檢測結(jié)果典型圖片
圖5 OK樣品觸點(diǎn)的SEM&EDS檢測結(jié)果典型圖片
2.3 FT-IR分析
在不污染各部件的前提下，將2.2條款中剩下的繼電器進(jìn)行拆分，并將拆分后的部件分成3組，即A組（接點(diǎn)、彈片（可動端子、固定端子））、B組（鐵片、鐵芯、支架、卷軸）、C組（漆包線），分別將A、B、C組部件裝入干凈的瓶中，見圖6所示，處理后用FT-IR分析萃取物的化學(xué)成分，確認(rèn)其是否含有有機(jī)硅。
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