簡陽市MM-EFS18K1M4科技以人為本

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領(lǐng)先的國際機(jī)器視覺軟件提供商 MVTec Software GmbH 將于 2023 年 5 月 23 日發(fā)布其標(biāo)準(zhǔn)機(jī)器視覺軟件HALCON 的 23.05 版本。 新版本的重點(diǎn)是深度學(xué)習(xí)方法。其中的主要功能是 Deep Counting，這是一種基于深度學(xué)習(xí)的方法，可以對大量物體進(jìn)行穩(wěn)定可靠的計(jì)數(shù)。此外，新的 HALCON 版本還整合了對深度學(xué)習(xí)技術(shù)3D 抓取點(diǎn)檢測以及 Deep OCR訓(xùn)練的改進(jìn)?，F(xiàn)在可以借助 HALCON 23.05進(jìn)一步優(yōu)化底層的深度學(xué)習(xí)網(wǎng)絡(luò)，這些網(wǎng)絡(luò)已經(jīng)針對用戶自有應(yīng)用，使用行業(yè)相關(guān)圖像進(jìn)行過預(yù)先訓(xùn)練。這可以讓 Deep OCR應(yīng)用的識別率更加穩(wěn)定，也可以幫助使用 3D抓取點(diǎn)檢測技術(shù)的應(yīng)用更可靠地檢測合適的抓取面。此外，還有許多其他有益的改進(jìn)，例如，現(xiàn)在將外部代碼集成到 HALCON中時(shí)更加方便。

" 我們發(fā)現(xiàn)客戶對將深度學(xué)習(xí)方法整合到自有解決方案的興趣大增。 我們在開發(fā)新的HALCON版本時(shí)正是以此為導(dǎo)向，而成果是新的深度學(xué)習(xí)技術(shù)和進(jìn)一步的開發(fā)拓展，幫助客戶得到更**的結(jié)果，"MVTec HALCON 產(chǎn)品經(jīng)理Jan Grtner 解釋道。

Deep Counting

從 HALCON 23.05 開始，客戶可以使用"Deep Counting"功能，它可以快速可靠地對大量物體進(jìn)行計(jì)數(shù)和位置檢測。與現(xiàn)有的機(jī)器視覺方法相比，這種基于深度學(xué)習(xí)的技術(shù)具有明顯的優(yōu) 勢： 功能部署非常迅速，因?yàn)樾枰獦?biāo)記和訓(xùn)練的物體很少， 而且這兩個(gè)步驟都可以在HALCON中輕松完成。即使是高反射率非晶材料制成的物體，這項(xiàng)技術(shù)也能提供可靠的結(jié)果。利用 Deep Counting可以對大量物體進(jìn)行計(jì)數(shù)，例如玻璃瓶、樹干或食品等。

Deep OCR 的訓(xùn)練

Deep OCR 可以非常穩(wěn)定地讀取文字，甚至不會(huì)受到方向和字體的影響。這項(xiàng)技術(shù)會(huì)首先檢測 圖像中的相關(guān)文本，然后進(jìn)行讀取。借助HALCON 23.05，現(xiàn)在還可以通過使用特定于應(yīng)用的圖像重新訓(xùn)練預(yù)先訓(xùn)練過的網(wǎng)絡(luò)，對文本檢測進(jìn)行微調(diào)。這樣產(chǎn)生的結(jié)果更加穩(wěn)定，同時(shí)還開啟了新的可能性。例如：檢測任意印刷類型或此前未見的字符類型的文本，以及提高低對比度嘈雜環(huán)境中的讀取能力。

3D 抓取點(diǎn)檢測的訓(xùn)練

3D 抓取點(diǎn)檢測可以可靠地檢測任何物體上適合用吸力抓取的表面。在 HALCON 23.05 中，現(xiàn)在可以用特定于應(yīng)用的自有圖像數(shù)據(jù)重新訓(xùn)練預(yù)先訓(xùn)練過的模型。這樣就能更穩(wěn)定地識別可抓取的表面。利用 MVTec深度學(xué)習(xí)工具，可以輕松高效地完成必要的標(biāo)注工作。

簡易擴(kuò)展接口

借助 HALCON 擴(kuò)展包，可以集成外部編程語言。HALCON 23.05 中的外部代碼集成更加方便。 現(xiàn)在使用全新的 EasyExtensions Interface，用戶只需幾個(gè)步驟就可以在 HDevelop 和 HDevEngine 中使用自己用 .NET代碼編寫的函數(shù)。甚至還可以使用 HALCON/.NET 語言界面 中已知的數(shù)據(jù)類型和 HALCON 算子?？蛻羰找妫含F(xiàn)在，HALCON可以涵蓋單純圖像處理之外的功能。這增加了 HALCON 的靈活性和應(yīng)用可能性。

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