鍍層成分分析 鍍層厚度測(cè)試 SEM+EDS檢測(cè)方法-男人躁女人躁的好爽免費(fèi)視頻-國(guó)產(chǎn)亞洲歐美日韓綜合綜合二區(qū)   

利用電子探針SEM和光電子能譜儀EDS對(duì)鍍層成分或者表面污點(diǎn)進(jìn)行成分分析。

適用范圍：

1、金屬及非金屬表面涂、鍍層各層的成分分析，采用精密分析設(shè)備電子探針，對(duì)各層成分進(jìn)行分析，取樣方式為切面法，對(duì)各層進(jìn)行高倍放大進(jìn)行點(diǎn)和面的分析，薄的覆蓋層厚度可以到0.1μm，優(yōu)點(diǎn)是其分析精度高，采樣直接有代表性。

2、表面污點(diǎn)的成分分析，分析設(shè)備為光電子能譜儀，通過(guò)與電子探針聯(lián)合運(yùn)用，可以對(duì)樣品進(jìn)行表面的點(diǎn)分析和面分析，對(duì)比分析可以知道材料表面污染造成的原因。