已具有國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室資質(zhì)認(rèn)可和中國(guó)計(jì)量認(rèn)證認(rèn)可資質(zhì)，實(shí)驗(yàn)室擁有試驗(yàn)測(cè)試設(shè)備共計(jì)400多套，可實(shí)施大概100種類型的試驗(yàn)，我單位實(shí)驗(yàn)室可實(shí)施高溫試驗(yàn)，低溫試驗(yàn)，恒定濕熱試驗(yàn)，交變濕熱，振動(dòng)試驗(yàn)，溫度變化試驗(yàn)，溫度濕度組合試驗(yàn)，自由跌落試驗(yàn)，機(jī)械沖擊試驗(yàn)，機(jī)械碰撞試驗(yàn)，傾跌與翻到試驗(yàn)，沙塵試驗(yàn)，鹽霧試驗(yàn)，中性鹽霧試驗(yàn)，人造氣氛腐蝕鹽霧試驗(yàn)等測(cè)試項(xiàng)目，并且這些實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目在我方實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可證書的認(rèn)可范圍內(nèi)，可出具具有資質(zhì)效力的試驗(yàn)報(bào)告。
測(cè)試依據(jù)的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)如下：
gb 4208-2008外殼防護(hù)《外殼防護(hù)等級(jí)（ip代碼）》
gb/t 2423.1-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)a:低溫》
gb/t 2423.2-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)a:高溫》
gb/t 2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分： 試驗(yàn)方法試驗(yàn)cab：恒定濕熱試驗(yàn)
gb/t 2423.4-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)db：交變濕熱（12h＋12h循環(huán)）》
gb/t 2423.9-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)cb:設(shè)備用恒定濕熱》
gb/t 2423.10-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)fc和導(dǎo)則：振動(dòng)（正弦）》
gb/t 2423.22-2002《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)n: 溫度變化》
gb/t 2423.34-2005《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)z/ad：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)》
gb/t 2423.8-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ed:自由跌落》
gb/t 2423.5-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ea和導(dǎo)則:沖擊》
gb/t 2423.6-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)eb和導(dǎo)則:碰撞》
gb/t 2423.7-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ec和導(dǎo)則:傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品)》
gb/t 2423.37-2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)l：沙塵試驗(yàn)》
gb/t 2423.17-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)  第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)ka：鹽霧》
gb/t 2423.18-2000《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)kb:鹽霧，交變(氯化鈉溶液)》
gb/t 10125-1997《人造氣氛腐蝕試驗(yàn) 鹽霧試驗(yàn)》

若貴司正尋求以上試驗(yàn)項(xiàng)目的檢測(cè)機(jī)構(gòu)可聯(lián)系我們，試驗(yàn)價(jià)格優(yōu)惠，試驗(yàn)報(bào)告。