XRD物相組成檢測XRF光譜成分檢測

　　X射線衍射儀( XRD )

　　單晶衍射儀和粉末衍射儀,對材料進行晶體結(jié)構(gòu)物相分析,出的結(jié)果是晶面衍射角度,定性分析;算不同晶面間距的衍射峰的強度來推物相的含量的,定量分析。

　　原理:X射線是原子內(nèi)層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵,這些很大數(shù)目的原子或離子/分子所產(chǎn)生的相干散射將會發(fā)生光的干涉作用,從而影響散射的X射線的強度增強或減弱。由于大量原子散射波的疊加,互相干涉而產(chǎn)生大強度的光束稱為X射線的衍射線。

　　滿足衍射條件,可應(yīng)用布拉格公式: 2dsinθ=λ應(yīng)用已知波長的X射線來測量0角,從而計算出晶面間距d,這是用于X射線結(jié)構(gòu)分析;另-個是應(yīng)用已知d的晶體來測量0角,從而計算出特征X射線的波長,進而可在已有資料查出試樣中所含的元素。

　　X射線熒光光譜儀(XRF)

　　對材料進行成份分析的儀器,通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，測定元素(算波長)定性和算元素的譜線強度來推濃度定量分析。

　　原理:利用初級X射線光子或其他微觀離子激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光(次級X射線)而進行物質(zhì)成分分析和化學態(tài)研究的方法。按激發(fā)、色散和探測方法的不同,分為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散)。