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1 半導(dǎo)體器件 分立器件第8部分:場效應(yīng)晶體管 GB/T4586-1994 /第Ⅳ篇第5節(jié) 柵-源截止電壓

2 半導(dǎo)體器件 分立器件第8部分:場效應(yīng)晶體管 GB/T4586-1994 /第Ⅳ篇第6節(jié) 柵-源閾值電壓

3 半導(dǎo)體器件 分立器件第8部分:場效應(yīng)晶體管 GB/T4586-1994 /第Ⅳ篇第2節(jié) 柵極截止電流/柵極泄漏電流

4 半導(dǎo)體器件 分立器件第8部分:場效應(yīng)晶體管 GB/T4586-1994 /第Ⅳ篇第15節(jié) 漏-源通態(tài)電阻

5 半導(dǎo)體器件 分立器件第8部分:場效應(yīng)晶體管 GB/T4586-1994 /第Ⅳ篇第4節(jié) 漏極截止電流

6 半導(dǎo)體器件 分立器件第8部分:場效應(yīng)晶體管 GB/T4586-1994 /第Ⅳ篇第3節(jié) 漏極電流

7 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第4部分：強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)（HAST） GB/T 4937.4-2012 強(qiáng)加速穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)

8 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy 恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗(yàn) GB/T 2423.50-2012 恒定濕熱

9 半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分：場效應(yīng)晶體管 GB/T 4586-1994 第IV章 測試方法 6 柵-源閾值電壓

10 半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分：場效應(yīng)晶體管 GB/T 4586-1994 第IV章 測試方法 2 柵極泄漏電流

11 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB128A-1997 方法 1051 溫度循環(huán)

12 半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分：場效應(yīng)晶體管 GB/T 4586-1994 第IV章 測試方法 15 漏-源通態(tài)電阻

13 半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分：場效應(yīng)晶體管 GB/T 4586-1994 第IV章 測試方法 3 漏極電流

14 半導(dǎo)體器件 分立器件 第8部分：場效應(yīng)晶體管 GB/T 4586-1994 第IV章 測試方法 18 熱阻

15 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法 GJB128A-1997 方法 1027 穩(wěn)態(tài)工作壽命