氮化鎵氮化硅渦流法方阻電阻率測(cè)試儀-免費(fèi)三級(jí)現(xiàn)頻在線觀看播放メイリン モデルコレクション メイ-免費(fèi)觀看成人僵尸視頻大全
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參數(shù) | 方阻 | 電阻率（厚度180um） | 方法 | |
探頭量程 | 1-600Ω/¨ | 0.018-10.8 Ω?cm | 渦流法 | |
探頭性能 | 動(dòng)態(tài)重復(fù)性 | 靜態(tài)重復(fù)性 | 示值誤差 | |
1-80Ω/¨（0.018 - 1.44Ω?cm） < 0.2% | <0.01% | ±1% | ||
80-120Ω/¨（1.44 - 2.16Ω?cm） < 0.3% | ||||
120-300Ω/¨（2.16 - 5.4Ω?cm） < 0.5% | ||||
300-600Ω/¨（5.4 - 10.8Ω?cm）< 1% | ||||
外形尺寸 | 上探頭Ф20*145mm | 下探頭Ф20*50mm | ||
信號(hào)采集 | 采樣率：大1500Sps | |||
采樣個(gè)數(shù)：大512點(diǎn)/單次 | ||||
采樣緩存：8級(jí)數(shù)據(jù)記錄緩存 | ||||
數(shù)據(jù)傳輸：RS232 RS485CANTCP/IP | ||||
傳輸協(xié)議：Modbus Rtu/ Modbus Tcp 用戶自定義協(xié)議等 | ||||
供電電源 | 24V/1A | |||
非接觸式無(wú)損方塊電阻測(cè)試儀、晶圓方阻測(cè)試儀，方阻測(cè)試儀，硅片電阻率測(cè)試儀，渦流法高低電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，渦流法電阻率探頭和PN探頭測(cè)試儀，遷移率（霍爾）測(cè)試儀，少子壽命測(cè)試儀，晶圓、硅片厚度測(cè)試儀，表面光電壓儀JPV\SPV、汞CV、ECV。為碳化硅、硅片、氮化鎵、襯底和外延廠商提供測(cè)試和解決方案。
半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀，碳化硅方阻測(cè)試儀，少子壽命測(cè)試儀，晶圓霍爾遷移率測(cè)試系統(tǒng)，氮化鎵厚度TTV測(cè)試儀
許可項(xiàng)目：第二類醫(yī)療器械生產(chǎn)（依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目，經(jīng)相關(guān)部門(mén)批準(zhǔn)后方可開(kāi)展經(jīng)營(yíng)活動(dòng)，具體經(jīng)營(yíng)項(xiàng)目以審批結(jié)果為準(zhǔn)）一般項(xiàng)目：技術(shù)服務(wù)、技術(shù)開(kāi)發(fā)、技術(shù)咨詢、技術(shù)交流、技術(shù)轉(zhuǎn)讓、技術(shù)推廣；軟件開(kāi)發(fā)；人工智能基礎(chǔ)軟件開(kāi)發(fā)；人工智能應(yīng)用軟件開(kāi)發(fā)；新材料技術(shù)研發(fā)；機(jī)械設(shè)備研發(fā)；計(jì)算機(jī)系統(tǒng)服務(wù)；信息系統(tǒng)集成服務(wù)；工業(yè)工程設(shè)計(jì)服務(wù)；工程和技術(shù)研究和試驗(yàn)發(fā)展；科技推廣和應(yīng)用服
公司成立于2021年，是一家注冊(cè)在蘇州、具備世界領(lǐng)先技術(shù)的非接觸式半導(dǎo)體檢測(cè)分析設(shè)備制造商。公司集研發(fā)、設(shè)計(jì)、制造、銷售于一體，主要攻克國(guó)外壟斷技術(shù)，替代進(jìn)口產(chǎn)品，使半導(dǎo)體材料測(cè)試設(shè)備國(guó)產(chǎn)化。主要產(chǎn)品：非接觸式無(wú)損方塊電阻測(cè)試儀、晶圓方阻測(cè)試儀，方阻測(cè)試儀，硅片電阻率測(cè)試儀，渦流法高低電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，渦流法電阻率探頭和PN探頭測(cè)試儀，遷移率（霍爾）測(cè)試儀，少子壽命測(cè)試儀，晶圓、硅片厚度測(cè)試儀，表面光電壓儀JPV\SPV、...