測試原理偏振/相位測量
1、測試對象：1、測試對象：偏光片、相位差膜、光學膜。
2、測試功能包括：
2.1：測試功能包括：可測試補償膜的波長分散性、面內補償值Re、厚度方向補償值Rth、光軸方向、預傾角 Beta；偏光片的 透過率（單體、透過、直交）、偏光度，色度（La,b)等。
2.2：貼合角/多層測試：除可測試補償膜+Pol結構的補償偏光 片的貼合角度及補償膜的補償值之外，還可測試補償膜1+Pol+ 補償膜 2 結構的 2個貼合角度。測試貼合角度時，對樣品放置要 求比較低。
2.3：偏光片：吸收軸角度測試，透過軸角度測試
光學檢測儀，色差儀，偏光片測試儀，相位差測量儀，ARVR近眼顯示測試
研發(fā)、銷售：光電材料、電子元器件、計算機軟硬件；并提供光電材料、電子元器件、軟件科技領域內的技術開發(fā)、技術咨詢、技術服務、技術轉讓；銷售：半導體材料、儀器儀表、電動工具、五金；加工、組裝：自動化設備、機械設備；承接：機械工程、上門維修、租賃服務；從事上述產(chǎn)品及技術的進出口業(yè)務。（依法須經(jīng)批準的項目，經(jīng)相關部門批準后方可開展經(jīng)營活動）
蘇州千宇光學科技有限公司創(chuàng)建于2019年，是一家光學儀器科技研究與服務的科技型公司。千宇光學專注于偏振光學應用、光學解析、光電探測器和光學檢測儀器的研發(fā)與制造。核心事業(yè)涵蓋光電材料、光學顯示、半導體、薄膜橡塑、印刷涂料等行業(yè)。產(chǎn)品覆蓋LCD、OLED、VA、AR等上中下游各段光學測試需求，并于國內率先研發(fā)相位差測試儀打破國外設備壟斷，目前已廣泛應用于全國光學頭部品牌及其制造商。千宇光學研發(fā)中心由光學博士團隊組成，掌握獨立自主的光學檢測技...