將礦樣送至遠離現場的實驗室檢測,不但費時費力、成本昂貴,對于偏遠的地方更加困難重重。奧林巴斯礦石分析儀的出現,讓礦物元素分析工作變得異常方便、簡潔。國內不少礦業(yè)公司都選擇了奧林巴斯礦石分析儀Vanta來作為野外勘探工作的重要工具,不僅提高了工作效率,采礦的判斷準確性也得以大幅度提升。

Vanta分析儀可用于分析鐵礦石、錳礦石、鎳礦石、金礦石、銅礦石等材料中鐵、錳、磷、硅、鉻、鎳、鉬、釩、鈦、鋁、銅、錫、鉛、稀土、鎂等多種元素的含量以及品位?？芍苯舆B接電腦打印測試結果且可保存日期及測試數據,具有大容量長效性的特點。

改進創(chuàng)新

從一次檢測開始直到一百次檢測，Vanta分析儀每次都能為用戶提供相同的結果。

由于Vanta分析儀將Axon技術與新款四核處理器結合在一起使用，因而這款分析儀具有非尋常的響應能力，在操作性能上達到新的突破，可使用戶在短時間內獲得分析結果。Axon技術可使不同Vanta儀器的各次檢測都具有非一般的高重復性能，因此無論用戶使用的是哪臺儀器，其一次檢測與其后一次檢測都會是相同的。                                           

奧林巴斯新開發(fā)的Axon技術，提高了XRF信號處理的性能，可為用戶提供重復性高的檢測結果。Axon技術使用

專有的超低噪聲電子設備，提高了X射線探測器的性能，在每秒鐘之內可完成更高的X射線計數，從而可以快的速

度獲得更可靠的結果。采用了Axon技術的分析儀，在每次檢測之間和各個儀器之間，都具有極高的重復性，從而可使用

戶對檢測結果充滿信心。Axon技術可以讓您體驗到不同以往的檢測經歷。

更高的X射線計數率可以轉化為快、的檢測結果，以及更低的檢出限。一般來說，對一個探測器參數的優(yōu)化（如：到峰值時間或計數率），會嚴重弱化其它一些參數（如：分辨率）。Axon技術限度地降低了這個問題的難度。Vanta分析儀可以處理更多的X射線計數，從而可以提供的結果。超低電子噪聲的設計即使其到峰值的時間更短，Axon技術仍能提供優(yōu)于其它XRF分析儀的分辨率，從而在優(yōu)化分辨率方面完成了一項重大突破：可為用戶提供接近于基本理論極限的分辨率。這種優(yōu)質分辨率可使我們的設備清晰地分辨出聚攏在一起的眾多的譜峰。在量化合金或地球化學樣本及貴金屬中的輕元素時，這個特性非常重要，因為在分析儀采用了Axon技術之前，要完成這類測量困難。已經申請了專利的重置計劃可以提高檢測量，降低探測器的停工時間Axon技術的創(chuàng)新特性是可使分析儀為探測器觸碰到的更多X射線計數，大多數其它XRF分析儀不具備這個性能。專有的處理算法意味著可以快速地去除堆積計數（當兩條或多條X射線同時碰撞到探測器時會出現這種現象。