如何測量陶瓷量塊長度-國產(chǎn)又粗又大又爽又黃メイリン モデルコレクション メ-國產(chǎn)亞洲中文日韓歐美綜合網(wǎng)^&
陶瓷量塊材料為二氧化鋯，硬度為 hv1100，熱膨脹系數(shù)接近于鋼陶瓷量塊的熱膨脹系數(shù)與鋼較為接近，同時又具有高硬度、耐腐蝕、不易變性、不易磨損等優(yōu)點(diǎn)，特別適合于在工業(yè)現(xiàn)場使用。使用壽命是鋼制量塊的10倍陶瓷量塊作為一種新型產(chǎn)品，目前國家還沒有出臺陶瓷量塊的檢定規(guī)程，我們在測量時仍然要參考jjg146—2003《量塊檢定規(guī)程》，根據(jù)規(guī)程的要求，量塊的測量方法有兩種，一種是直接測量法，另一種是比較測量法。也正是由于陶瓷量塊的上述特點(diǎn)，使得它的檢定方法與鋼量塊有所不同陶瓷量塊比較測量一般采用接觸式干涉儀，由于陶瓷量塊的硬度達(dá)到了hvll50(相當(dāng)于hrc80以上)，而普通接觸式干涉儀帶筋工作臺的硬度只有hrc53左右，測量時非常容易損傷工作臺，使之產(chǎn)生毛刺、劃痕等缺陷，這些缺陷會造成測量誤差。并且目前大多數(shù)計(jì)量機(jī)構(gòu)沒有配備標(biāo)準(zhǔn)陶瓷量塊，當(dāng)采用鋼量塊作為標(biāo)準(zhǔn)時，這些缺陷反過來又會損傷標(biāo)準(zhǔn)量塊。比較測量時，儀器測帽以一定的力作用于量塊表面，此時量塊表面會產(chǎn)生一個彈性壓陷，當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)量塊和
被測量塊材料相同時，其彈性模數(shù)和表面硬度相同，在標(biāo)準(zhǔn)量塊和被測量塊表面產(chǎn)生的壓陷深度相同時，這一影響可以忽略不計(jì)。以鋼量塊作為標(biāo)準(zhǔn)測量陶瓷量塊
時，由于兩者的材料不同，彈性模數(shù)相差非常大，其壓陷量也不相同，從而產(chǎn)生測量誤差；另外，陶瓷量塊的膨脹系數(shù)為9×10 ℃～，鋼量塊的膨脹系數(shù)為l1．5×
1o ℃ ～，當(dāng)實(shí)驗(yàn)室溫度偏離20℃，采用鋼量塊作為標(biāo)準(zhǔn)，如果不進(jìn)行溫度修正，也會造成測量誤差。所以，采用比較法測量陶瓷量塊長度時，應(yīng)采用陶瓷量塊作為標(biāo)準(zhǔn)，同時配以陶瓷材料制成的帶筋工作臺。
2 陶瓷量塊長度的直接測量
陶瓷量塊因材料的特殊性，它的微觀結(jié)構(gòu)中分布著許多極微細(xì)的氣孔，容易排除空氣達(dá)到很好的研合效果。對于二等以上的陶瓷量塊，通常采用柯氏干涉儀直接測量陶瓷量塊長度。采用柯氏干涉儀測量量塊的長度，由于研合平晶一般為玻璃平晶，需要對材料差異進(jìn)行修正。材料差異修正值(修正量c )與量塊材料、表面粗糙度、研合質(zhì)量等特性密切相關(guān)，要準(zhǔn)確測得陶瓷量塊的長度，不能采用鋼量塊和玻璃平晶研合時的修正量c ，要通過實(shí)驗(yàn)的方法確定陶瓷與玻璃的修正量。陶瓷量塊研合在玻璃平晶上時，其研合厚度t 與陶瓷量塊研合在陶瓷平板上的研合厚度t 是不相同的，光在不同材料表面反射時，會產(chǎn)生位相跳躍，設(shè)其引起的測量誤差為ⅳ，則用柯氏干涉儀測量陶瓷量塊長度時的修正量c，=n+t，一t：。
時，由于兩者的材料不同，彈性模數(shù)相差非常大，其壓陷量也不相同，從而產(chǎn)生測量誤差；另外，陶瓷量塊的膨脹系數(shù)為9×10 ℃～，鋼量塊的膨脹系數(shù)為l1．5×
1o ℃ ～，當(dāng)實(shí)驗(yàn)室溫度偏離20℃，采用鋼量塊作為標(biāo)準(zhǔn)，如果不進(jìn)行溫度修正，也會造成測量誤差。所以，采用比較法測量陶瓷量塊長度時，應(yīng)采用陶瓷量塊作為標(biāo)準(zhǔn)，同時配以陶瓷材料制成的帶筋工作臺。
2 陶瓷量塊長度的直接測量
陶瓷量塊因材料的特殊性，它的微觀結(jié)構(gòu)中分布著許多極微細(xì)的氣孔，容易排除空氣達(dá)到很好的研合效果。對于二等以上的陶瓷量塊，通常采用柯氏干涉儀直接測量陶瓷量塊長度。采用柯氏干涉儀測量量塊的長度，由于研合平晶一般為玻璃平晶，需要對材料差異進(jìn)行修正。材料差異修正值(修正量c )與量塊材料、表面粗糙度、研合質(zhì)量等特性密切相關(guān)，要準(zhǔn)確測得陶瓷量塊的長度，不能采用鋼量塊和玻璃平晶研合時的修正量c ，要通過實(shí)驗(yàn)的方法確定陶瓷與玻璃的修正量。陶瓷量塊研合在玻璃平晶上時，其研合厚度t 與陶瓷量塊研合在陶瓷平板上的研合厚度t 是不相同的，光在不同材料表面反射時，會產(chǎn)生位相跳躍，設(shè)其引起的測量誤差為ⅳ，則用柯氏干涉儀測量陶瓷量塊長度時的修正量c，=n+t，一t：。
(a)所示，用兩個標(biāo)稱尺寸相同的陶瓷量塊的工作面作為基面，兩塊量塊工作面的平面性要求小于0．015 肌，將相同尺寸的陶瓷量塊和玻璃量塊并排地研合在這兩塊
量塊的工作表面。將該組合體倒置于柯氏干涉儀工作臺
上，用黃光觀察，陶瓷量塊低于研合面的光學(xué)距離為t +ⅳ，而玻璃量塊低于研合面的距離為t：，故它使我們看到在陶瓷量塊和玻璃量塊上有兩組相互平行的干涉帶。由于研合厚度的差別及光在陶瓷量塊表面的位相跳躍，使兩組干涉帶中間的黑干涉帶有一個位移
量塊的工作表面。將該組合體倒置于柯氏干涉儀工作臺
上，用黃光觀察，陶瓷量塊低于研合面的光學(xué)距離為t +ⅳ，而玻璃量塊低于研合面的距離為t：，故它使我們看到在陶瓷量塊和玻璃量塊上有兩組相互平行的干涉帶。由于研合厚度的差別及光在陶瓷量塊表面的位相跳躍，使兩組干涉帶中間的黑干涉帶有一個位移
由于陶瓷量塊的特殊性，選擇測量方法時要特別注意，采用比較法測量陶瓷量塊長度時，應(yīng)采用陶瓷量塊作為標(biāo)準(zhǔn)，同時配以陶瓷材料制成的帶筋工作臺；選擇直接測量時，要根據(jù)量塊的材料特性確定修正量c ，而不能直接引用鋼量塊的0．06 m的修正量