蘇州電鏡檢測(cè)單位金屬鍍層膜厚分析脫碳層深度測(cè)試-視頻一區(qū)國(guó)產(chǎn)|99視頻精品國(guó)產(chǎn)免費(fèi)觀看
電鍍檢驗(yàn)是電鍍完成后不可缺少的工作,只有檢驗(yàn)合格的產(chǎn)品才能交給下一工序。常見(jiàn)的檢驗(yàn)項(xiàng)目為:膜厚、附著力、可焊性、外觀、包裝、鹽霧實(shí)驗(yàn)。
一 、膜厚:
1.膜厚為電鍍檢測(cè)基本項(xiàng)目,使用基本工具為螢光膜厚儀(X-RAY),其原理是使用X射線照射鍍層,收集鍍層返回的能量光譜,鑒別鍍層厚度及成分。
2.使用X-RAY注意事項(xiàng):
1)每次開(kāi)機(jī)需做波譜校準(zhǔn)
2)每月要做十字線校準(zhǔn)
3)每星期應(yīng)至少做一次金標(biāo)定
4)測(cè)量時(shí)應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品所使用的鋼材選用測(cè)試檔案
5)對(duì)于新產(chǎn)品沒(méi)有建測(cè)試檔案,應(yīng)建立測(cè)試檔案
3.測(cè)試檔案的意義:
例:Au-Ni-Cu(100-221 sn 4%#0.2cfpAu-Ni-Cu----------測(cè)試在銅基材上鍍打底再鍍金的厚度。(100-221 sn 4%-------AMP銅材編號(hào) 含錫4%的銅材)
X-ray 方法
X射線光譜方法測(cè)定覆蓋層厚度是基于一束強(qiáng)烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產(chǎn)生離散波長(zhǎng)和能量的二次輻射,這些二次輻射具有構(gòu)成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質(zhì)量(若密度已知,則為覆蓋層線性厚度)和二次輻射強(qiáng)度之間存在一定的關(guān)系。該關(guān)系首先由已知單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正標(biāo)準(zhǔn)塊校正確定。若覆蓋層材料的密度已知,同時(shí)又給出實(shí)際的密度,則這樣的標(biāo)準(zhǔn)塊就能給出覆蓋層線性厚度。
部分參考標(biāo)準(zhǔn):
金屬覆蓋層覆蓋層厚度測(cè)量輪廓儀法 GB/T 11378-2005
金屬和其他非有機(jī)覆蓋層關(guān)于厚度測(cè)量的定義和一般規(guī)則 GB/T 12334-2001
真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法 電阻法 GB/T 15717-1995
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 X射線光譜方法 GB/T 16921-2005
金覆蓋層厚度的掃描電鏡測(cè)量方法 GB/T 17722-1999
金屬與非金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 β射線背散射法 GB/T 20018-2005
金屬和非金屬基體上非磁性金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 相敏渦流法 GB/T 31554-2015
金屬覆蓋層 厚度測(cè)量 掃描電鏡法 GB/T 31563-2015
貴金屬?gòu)?fù)合材料覆層厚度的掃描電鏡測(cè)定方法 GB/T 38783-2020
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量 陽(yáng)極溶解庫(kù)侖法 GB/T 4955-2005
金屬和氧化物覆蓋層厚度測(cè)量顯微鏡法 GB/T 6462-2005